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基于主动扫频声激励的金属薄板缺陷定位方法
| 专利名称： | 基于主动扫频声激励的金属薄板缺陷定位方法 |
| 摘要： | 本发明提出了一种基于主动扫频声激励的金属薄板缺陷定位方法，所述方法包括：装置布设、信号获取、信号处理、缺陷定位四个步骤；该方法能通过时延信息得到缺陷位置曲线，然后根据缺陷位置曲线的交点确定缺陷位置；本发明的有益技术效果是：提出了一种基于主动扫频声激励的金属薄板缺陷定位方法，该方法不需要预先知道导波传播速度即可实现缺陷定位，定位的准确性较高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 重庆大学 |
| 发明人： | 杨进;沈子莹 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810643442.6 |
| 公开号： | CN108802184A |
| 代理机构： | 重庆乾乙律师事务所 50235 |
| 代理人： | 侯春乐 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01)I;G01N29/42(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/04;G01N29/42 |
| 申请人地址： | 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 |
| 主权项： | 1.一种基于主动扫频声激励的金属薄板缺陷定位方法，其特征在于：所述方法包括：1)装置布设：在待测金属薄板表面设置多个压电陶瓷传感器，多个压电陶瓷传感器呈环形分布，多个压电陶瓷传感器所围区域形成检测区；在待测金属薄板表面设置一致动激励器，致动激励器位于检测区中部；以待测金属薄板表面为坐标平面，建立二维直角坐标系，获取各个压电陶瓷传感器在二维直角坐标系中的坐标；2)信号获取：控制致动激励器向待测金属薄板施加扫频激励信号，同时，通过多个压电陶瓷传感器获取检测信号；3)信号处理：对单个检测信号进行处理时，先对检测信号进行自适应滤波处理得到滤波信号，然后采用系统辨识方法对滤波信号进行处理，得到对应的滤波系数，然后根据滤波系数得到滤波系数最大值所对应的时延信息T；4)缺陷定位：将任意两个压电陶瓷传感器记为一个传感器组，多个压电陶瓷传感器即可得到多个传感器组；将单个传感器组所辖的两个压电陶瓷传感器分别记为第i号传感器和第j号传感器，按下式得到相应的缺陷位置曲线： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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