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原文传递 支柱绝缘子界面缺陷及界面状态的检测方法
专利名称: 支柱绝缘子界面缺陷及界面状态的检测方法
摘要: 本发明提供的一种支柱绝缘子界面缺陷和界面状态的检测方法,在支柱绝缘子主界面上选取若干空间点,设置太赫兹波在反射模式下获取每一空间点的太赫兹反射时域波形,每一空间点在所述主界面、所述第二界面、所述第一界面处依次形成主脉冲、第一回波脉冲及第二回波脉冲,比较每一空间点的太赫兹反射时域波形与非缺陷区域的太赫兹反射时域波形,当出现第三回波脉冲或所述回波脉冲能量变大时,相应的所述空间点所在检测平面上存在界面缺陷。本发明检测评估方法基于太赫兹波反射模式时域波形分析,检测准确度高、可操作性强,可行性可靠,能够满足对聚氨酯灌注式复合支柱绝缘子界面状态的评估工作要求。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 清华大学深圳研究生院
发明人: 梅红伟;李岚欣;王黎明
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810596453.3
公开号: CN108801970A
代理机构: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311
代理人: 曾昭毅;郑海威
分类号: G01N21/3586(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3586
申请人地址: 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
主权项: 1.一种支柱绝缘子界面缺陷的检测方法,所述绝缘子由内而外包括聚氨酯层、环氧层、橡胶层,依次形成第一界面、第二界面及与外界接触的主界面,其特征在于:在所述主界面上选取一空间点,设置太赫兹波在反射模式下获取所述空间点的太赫兹反射时域波形,所述空间点在所述主界面、所述第二界面、所述第一界面处依次形成主脉冲、第一回波脉冲及第二回波脉冲,比较所述空间点的太赫兹反射时域波形与非缺陷区域的太赫兹反射时域波形,当出现第三回波脉冲或所述回波脉冲能量变大时,相应的所述空间点所在检测平面上存在界面缺陷。
所属类别: 发明专利
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