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原文传递 一种基于超声相控阵的零件内部缺陷三维参数提取方法
专利名称: 一种基于超声相控阵的零件内部缺陷三维参数提取方法
摘要: 本发明公开了一种基于超声相控阵的零件内部缺陷三维参数提取方法,根据待测零件的形状大小,对待测零件进行检测,通过探头的移动,检测到零件内部缺陷并在超声相控阵仪器上进行显示,然后保存数据,获取待测零件内部缺陷的对应切片图像后,以S显示为主要的图像信息进行数据保存;对采集到的缺陷显示图像进行图像处理;求取处理好缺陷的切片图像的质心,并标定质心的位置,计算得出每个切片图像上缺陷的面积;采用等面积的圆替换形状复杂的缺陷,将所有的图片进行面积等效处理,重构缺陷的三维模型,计算得到零件内部重建缺陷的三维参数用于反映零件的内部结构。本发明方法成本低、耗时相对较少、设备简易便于携带、可实现在线检测。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 陕西;61
申请人: 西安交通大学
发明人: 李兵;李应飞;陈磊;周浩;高飞;魏翔
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810015577.8
公开号: CN108226290A
代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人: 徐文权
分类号: G01N29/04(2006.01)I;G01N29/06(2006.01)I;G01N29/44(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29;G01N29/04;G01N29/06;G01N29/44
申请人地址: 710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
主权项: 1.一种基于超声相控阵的零件内部缺陷三维参数提取方法,其特征在于,根据待测零件的形状大小,对待测零件进行检测,通过探头的移动,检测到零件内部缺陷并在超声相控阵仪器上进行显示,然后保存数据,获取待测零件内部缺陷的对应切片图像pi后,以S显示为主要的图像信息进行数据保存;对采集到的缺陷S显示图像p1,p2,...,pi进行图像处理;求取处理好缺陷的切片图像的质心Oi,并标定质心Oi的位置,计算得出每个切片图像上缺陷的面积Si;采用等面积的圆替换形状复杂的缺陷,将所有的图片进行面积等效处理,重构缺陷的三维模型,计算得到零件内部重建缺陷的三维参数用于反映零件的内部结构。
所属类别: 发明专利
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