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一种二维材料光热效应的测定方法和装置
| 专利名称： | 一种二维材料光热效应的测定方法和装置 |
| 摘要： | 一种高灵敏检测二维材料光热效应的方法，基于泵浦探测技术和二维材料在全内反射结构下的偏振吸收效应，使用泵浦光照射二维材料，二维材料吸收光后产生热，并传递到周围介质中，热传播过程中由于温度变化引起周围介质折射率改变。利用凸透镜将探测光聚焦通过棱镜全内反射方式照射二维材料上，反射光使用偏振分光将s偏振和p偏振的光分开，通过平衡探测器测量s偏振和p偏振的电信号差值，进而得到由于光热效应引起的折射率变化。在测量中对泵浦光进行调制，并将调制信息反馈到锁相放大器中，同时将差分探测器电信号输入到锁相放大器，利用锁相放大功能实现对光热信号的测量。本发明适用于研究石墨烯、二硫化钼、黑磷、二硫化铼等不同二维材料的光热效应。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 南开大学 |
| 发明人： | 刘智波;高晓光;田建国 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810044280.4 |
| 公开号： | CN108226040A |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/01;G01N21/63;G01N21/84 |
| 申请人地址： | 300071 天津市南开区卫津路94号 |
| 主权项： | 1.一种二维材料光热效应的测定方法，其特征在于能够实时的测量各种二维材料的光热信号，所述的方法包括：首先把二维材料贴附到棱镜表面，并在二维材料上方覆盖一层透明介质，将通过声光调制器调制的泵浦光通过介质照射到二维材料上，二维材料吸收泵浦光后产生热，并传递到周围覆盖的介质中，介质由于温度变化而引起折射率的改变。利用凸透镜将探测光聚焦通过棱镜全内反射方式照射二维材料上，反射光使用偏振分光将s偏振和p偏振的光分开，通过平衡探测器测量s偏振和p偏振的电信号差值，进而得到由于光热效应引起的折射率变化。在测量中对泵浦光进行调制，并将调制信息反馈到锁相放大器中，同时将差分探测器电信号输入到锁相放大器，利用锁相放大功能实现对光热信号的测量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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