原文传递
待检测基板、检测玻璃破损的方法和设备
| 专利名称： | 待检测基板、检测玻璃破损的方法和设备 |
| 摘要： | 本公开提供一种待检测基板、检测玻璃破损的方法和设备，属于显示技术领域。该待检测基板包括：玻璃基板以及在玻璃基板的边缘形成的一层导电膜层。本公开通过首先在玻璃基板的边缘形成一层导电膜层，然后向其中的一边缘输入预设电流，对边缘进行电流检测反应电阻变化情况，来判断玻璃基板边缘的完整性以及周边裂痕情况，这种检测方式能够及时发现玻璃基板的破损情况，减少由于基板破损、裂痕造成的工艺不良，进一步减少对后续工艺造成的时间以及物质的浪费。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
| 发明人： | 阮士薪;冯慧;范晓旺;贾丹;王武 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810085375.0 |
| 公开号： | CN108226228A |
| 代理机构： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 |
| 代理人： | 王卫忠;袁礼君 |
| 分类号： | G01N27/00(2006.01)I;G01N27/20(2006.01)I;C03C17/22(2006.01)I;C03C17/245(2006.01)I;G;C;G01;C03;G01N;C03C;G01N27;C03C17;G01N27/00;G01N27/20;C03C17/22;C03C17/245 |
| 申请人地址： | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |
| 主权项： | 1.一种待检测基板，其特征在于，包括：玻璃基板；以及在所述玻璃基板的边缘形成的一层导电膜层。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
