专利名称: |
一种荧光检测溶液中氟离子浓度的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种荧光检测溶液中氟离子浓度的方法。它包括如下步骤:1)标准曲线的绘制:用至少3组不同浓度的氟离子标准溶液分别与酚‑金属络合物修饰稀土纳米材料进行反应,得到不同的混合液,并分别测其发光强度;以所述发光强度为纵坐标,以所述氟离子标准溶液的浓度为横坐标,进行线性拟合,得到标准曲线;2)待测氟离子溶液中氟离子浓度的检测:将所述待测氟离子溶液与所述酚‑金属络合物修饰稀土纳米材料进行反应,得到混合液,测定其发光强度,与步骤1)中所述标准曲线对比,即得到所述待测溶液中氟离子浓度。本发明利用酚‑金属络合物修饰稀土纳米材料的荧光信号的变化实现对氟离子的快速、灵敏、准确的定量检测。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
首都师范大学 |
发明人: |
周晶;刘瑜鑫;蒋安琪 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810105371.4 |
公开号: |
CN108132235A |
代理机构: |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人: |
关畅;王春霞 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;C09K11/85(2006.01)I;C09K11/02(2006.01)I;G;C;G01;C09;G01N;C09K;G01N21;C09K11;G01N21/64;C09K11/85;C09K11/02 |
申请人地址: |
100048 北京市海淀区西三环北路105号 |
主权项: |
一种检测溶液中氟离子浓度的方法,包括如下步骤:1)标准曲线的绘制:用至少3组不同浓度的氟离子标准溶液分别与酚‑金属络合物修饰稀土纳米材料进行反应,得到不同的混合液,并分别测其发光强度;以所述发光强度为纵坐标,以所述氟离子标准溶液的浓度为横坐标,进行线性拟合,得到标准曲线;2)待测氟离子溶液中氟离子浓度的检测:将所述待测氟离子溶液与所述酚‑金属络合物修饰稀土纳米材料进行反应,得到混合液,测定其发光强度,与步骤1)中所述标准曲线对比,即得到所述待测溶液中氟离子浓度。 |
所属类别: |
发明专利 |