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基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统
| 专利名称： | 基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法和装置，所述方法包括步骤：1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；2)对检测结果进行解析、分类；3)对检测结果进行不检区过滤；4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。所述系统包括：包括AOI硬件平台、取像服务器PC、运算服务器PC和客户数据存储服务器。不同的厂家客户通过使用本发明自动判等方法及系统，可以对AOI检测结果按照厂家客户制定的规则进行分析，输出符合不同厂家客户自己的需求结果。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 发明人： | 杨阳;欧昌东 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810266497.X |
| 公开号： | CN108827970A |
| 代理机构： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
| 代理人： | 黄行军;刘琳 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88 |
| 申请人地址： | 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼 |
| 主权项： | 1.一种基于AOI系统的适应不同面板缺陷自动判等方法，其特征在于：包括如下步骤：1)AOI系统对待测面板进行取像、检测，生成检测结果；2)对检测结果进行解析、分类；3)对检测结果进行不检区过滤；4)对检测结果中的缺陷通过单一规则过滤；5)对检测结果中的缺陷进行复合规则过滤，分析缺陷之间的位置关联性；6)将符合规则的所有缺陷进行归类汇总，生成最终缺陷检测报告，上传至客户存储系统。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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