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原文传递一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法与装置

专利名称：	一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法与装置
摘要：	本发明属于显示屏缺陷检测技术领域，公开了一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法与装置，通过大相机检测获取微小缺陷的位置，通过小相机对微小缺陷进行二次图像采集，并进行分析处理，最终输出缺陷类型。本发明能够对微小缺陷进行精准分类，实现面板的正确降等分类。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉精立电子技术有限公司
发明人：	李渊;张胜森;程果;郑增强
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-22T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-07T00:00:00+0800
申请号：	CN201910060055.4
公开号：	CN109856156A
代理机构：	武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人：	胡琦旖
分类号：	G01N21/95(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
主权项：	1.一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，包括以下步骤：通过第一相机对显示面板的整个区域进行图像采集，得到第一图像；根据所述第一图像获取微小缺陷的位置信息；根据所述微小缺陷的位置信息，通过第二相机对显示面板的缺陷区域进行图像采集，得到第二图像；根据所述第二图像对微小缺陷进行检测分类处理；其中，所述第一相机为黑白相机，所述第二相机为彩色相机，所述第一相机的分辨率高于所述第二相机。 2.根据权利要求1所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，所述第二图像包括L255、R255、G255、B255、L0五个模式的画面图像；所述检测分类处理包括图像旋转校正、图像分割、异常区域分割、缺陷检测、缺陷分类。 3.根据权利要求2所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，所述图像旋转校正包括：基于L255画面图像，采用blob分析法获取图像的旋转角度，并根据所述旋转角度对图像进行校正。 4.根据权利要求2所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，所述图像分割包括：基于L255画面图像，分析计算液晶基元的横向分割直线组和纵向分割直线组的解析方程，根据解析结果对图像进行分割。 5.根据权利要求2所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，所述异常区域分割包括：基于L255、R255、G255、B255画面图像提取异常暗区域，基于L0、R255、G255、B255画面图像提取异常亮区域。 6.根据权利要求2所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，所述缺陷检测包括：计算各个异常区域的特征值，并根据所述特征值的数值范围进行缺陷检测。 7.根据权利要求2所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，所述缺陷分类包括：分别根据亮点缺陷和暗点缺陷的坐标信息，采用递归算法对缺陷进行分类，缺陷类别包括单颗暗点、二连暗、三连暗、多连暗、单颗亮点、二连亮、多连亮、亮暗并列、点距类缺陷。 8.一种基于AOI的显示面板微小缺陷判定装置，用于实现如权利要求1-7所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定方法，其特征在于，包括：相机组和图像采集处理单元；所述相机组包括第一相机和第二相机，所述第一相机为黑白相机，所述第二相机为彩色相机，所述第一相机的分辨率高于所述第二相机，所述第二相机具有x-y-z三个方向的自由度；所述第一相机用于对显示面板的整个区域进行图像采集，得到第一图像，并根据所述第一图像获取微小缺陷的位置信息；所述第二相机用于根据所述微小缺陷的位置信息对显示面板的缺陷区域进行图像采集，得到第二图像；所述图像采集处理单元用于根据所述第一图像获取所述微小缺陷的位置信息，用于根据所述第二图像对微小缺陷进行检测分类处理。 9.根据权利要求8所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定装置，其特征在于，所述第二相机采用双远心镜头。 10.根据权利要求8或9所述的基于AOI的显示面板微小缺陷判定装置，其特征在于，所述第一相机的分辨率为71M，所述第二相机的分辨率为5M。
所属类别：	发明专利