原文传递
低稀释比熔融X射线荧光光谱分析铌钽矿石的方法
| 专利名称： | 低稀释比熔融X射线荧光光谱分析铌钽矿石的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种低稀释比熔融X射线荧光光谱分析铌钽矿石的方法，先行设计标准曲线，配制并熔融标准样品，而后确定仪器分析条件，校正基体及谱线重叠效应，建立分析方法，以模拟原矿及精矿样品验证方法有效性，测定铌钽矿石中铌、钽、钛、硅、铁、锰、钙、铝、钠、钾和钨；本发明选择低稀释比熔融制样作为铌钽矿石X射线荧光光谱分析前处理方法在保证方法灵敏度的前提下消除了粒度效应及矿物效应，同时亦解决了样品分解问题，避免了铌、钽在酸性溶液中的水解；使用低稀释比熔融‑X射线荧光光谱分析铌钽矿石主次成分较之传统方法更省时省力；本方法具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 中国地质科学院矿产综合利用研究所 |
| 发明人： | 李可及;赵朝辉;卢彦;李刚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710801221.2 |
| 公开号： | CN107576680A |
| 代理机构： | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 |
| 代理人： | 蒋斯琪 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G01N1/36(2006.01)I;G01N1/44(2006.01)I;G01N1/38(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/223;G01N1/36;G01N1/44;G01N1/38 |
| 申请人地址： | 610041 四川省成都市武侯区二环路南三段5号 |
| 主权项： | 低稀释比熔融X射线荧光光谱分析铌钽矿石的方法，其特征在于步骤如下：首先，选择铌钽矿石标准物质GBW07154、稀有稀土矿石标准物质GBW07184、GBW07185、钒钛磁铁矿尾矿标准物质YSBC19703‑76、实验室内部标准物质Rb‑1、Rb‑2、Rb‑3及五氧化二铌、五氧化二钽、三氧化钨混合配制标准样品；第二步，准确称取混合熔剂，倒入铂黄坩埚内，再加入第一步中所述的各标准物质及脱模剂，所述混合熔剂：标准物质：脱模剂按照 8:2:0.1进行配比，以玻璃棒搅拌混匀；所述混合熔剂为四硼酸锂和偏硼酸锂，其中，四硼酸锂：偏硼酸锂=12:22；所述脱膜剂为溴化锂；第三步，将铂黄坩埚放入已升温至1200 ℃以上并保温超过15 min的熔样机内，按设定程序运行，结束后取出自然冷却成样品；所述样品待自然冷却后取出翻转，将铂黄坩埚放入熔样机内，重复同样的熔样程序，得到标准样品；第四步，待第三步熔融完成后，扫描各标准物质，确定待测元素仪器分析条件；第五步，以通过第四步确定的待测元素仪器分析条件测定第三步中所制备的标准样品，建立标准曲线；第六步，将已知值铌钽矿石样品按第三步中所述步骤熔融制样，使用第五步中所建方法分析，评价方法准确度及重现性；当样品满足要求即可投入使用，若结果不满意，则重新进行基体及谱线重叠效应校正。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
