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一种射线成像型超声波粒度分析仪
| 专利名称： | 一种射线成像型超声波粒度分析仪 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种射线成像型超声波粒度分析仪，包括振动器、连接块、下固定板、平衡砝码、气囊观察室、上固定板、入料室、射线成像头、基座；振动器设在下固定板的底部中心位置，连接块设在振动器的顶部，下固定板的左右两侧设有平衡砝码，气囊观察室的左端设有容纳射线成像头的圆形孔，气囊观察室的回转面的正上方左侧设有入料室，射线成像头设在基座的上端面，本实用新型新颖独特，通过振动器使气囊观察室内的细微颗粒呈悬浮状，借助射线成像头实现颗粒成像，有效解决了现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题，能够提高测量的准确性，实现粒度分析功能，借助平衡砝码可以实现振动座振动过程中保持平衡。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 张影影 |
| 发明人： | 张影影 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820085357.8 |
| 公开号： | CN208109638U |
| 代理机构： | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 |
| 代理人： | 许伯严 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02 |
| 申请人地址： | 322305 浙江省金华市浦江县浦阳街道东山路5-3号东山451号104室 |
| 主权项： | 1.一种射线成像型超声波粒度分析仪，结构包括：振动器(1)、连接块(2)、下固定板(3)、平衡砝码(4)、气囊观察室(5)、上固定板(6)、入料室(7)、射线成像头(8)、基座(9)；其特征是：振动器(1)设在下固定板(3)的底部中心位置，连接块(2)设在振动器(1)的顶部，下固定板(3)的左右两侧设有平衡砝码(4)，气囊观察室(5)的左端设有容纳射线成像头(8)的圆形孔，所述气囊观察室(5)的回转面的正上方左侧设有入料室(7)，所述射线成像头(8)设在基座(9)的上端面。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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