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原文传递 一种集成电路测试多工位定位装置
专利名称: 一种集成电路测试多工位定位装置
摘要: 本实用新型公开了一种集成电路测试多工位定位装置,其结构包括第一固定块、转轴、定位装置、底盘、固定盘、第二固定块、电机控制器、电机、固定板、传送带、第一传送齿轮、控制器、第二传送齿轮,第一固定块安装于转轴右侧,转轴与固定盘在同一轴线上,电机带动第一传送齿轮转动,第一齿轮通过传送带带动第二传送齿轮转动,第二传送齿轮使得转轴对底板上的需要测试集成电路进行传送,当需要被测试的集成电路在底板上时,定位探头对其检测,将检测信号传递给定位处理箱,定位箱将处理后的数据保存记录在定位器,接电箱使定位装置可通电使用,定位速度较快,自动化结构需要人工参与环节少,效率提高。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 甬矽电子(宁波)股份有限公司
发明人: 刘芳婷
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201820079803.4
公开号: CN207861418U
代理机构: 北京华识知识产权代理有限公司 11530
代理人: 乔浩刚
分类号: B65G49/05(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I;B;G;B65;G01;B65G;G01R;B65G49;G01R31;G01R1;B65G49/05;G01R31/28;G01R1/02
申请人地址: 315400 浙江省宁波市余姚市中意宁波生态园兴舜路22号
主权项: 1.一种集成电路测试多工位定位装置,其特征在于:其结构包括第一固定块(1)、转轴(2)、定位装置(3)、底盘(4)、固定盘(5)、第二固定块(6)、电机控制器(7)、电机(8)、固定板(9)、传送带(10)、第一传送齿轮(11)、控制器(12)、第二传送齿轮(13),所述第一固定块(1)安装于转轴(2)右侧,所述转轴(2)与固定盘(5)在同一轴线上,所述定位装置(3)安装于转轴(2)左侧,所述底盘(4)上端与第二固定块(6)下端相焊接,所述固定盘(5)安装于第二固定块(6)右侧,所述电机控制器(7)右端与电机(8)左端相焊接,所述电机(8)安装于固定板(9)左侧,所述固定板(9)下端与底盘(4)上端相焊接,所述传送带(10)与第一传送齿轮(11)相啮合,所述控制器(12)安装于固定板(9)左侧,所述第二传送齿轮(13)与传送带(10)相啮合,所述第一传送齿轮(11)与第二传送齿轮(13)之间设有传送带(10),所述转轴(2)与第二传送齿轮(13)在同一轴线上,所述定位装置(3)包括基层块(301)、连接块(302)、接电箱(303)、定位器(304)、定位处理箱(305)、定位探头(306)、档板(307),所述基层块(301)安装于连接块(302)下端,所述接电箱(303)安装于定位器(304)下端,所述定位处理箱(305)与接电箱(303)之间设有定位器(304),所述定位探头(306)与定位器(304)之间设有定位处理箱(305),所述档板(307)安装于定位处理箱(305)右侧。
所属类别: 实用新型
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