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一种基于迈斯纳效应的超导薄膜力学特性测量装置及方法
| 专利名称： | 一种基于迈斯纳效应的超导薄膜力学特性测量装置及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于迈斯纳效应的超导薄膜力学特性测量装置及方法，涉及超导薄膜力学特性测试技术领域。该测量装置包括平台主体、受力传感器组件、磁铁位置调节系统和样品限位系统。受力传感器组件被设置在样品台主体上，待测样品被置于受力传感器组件上，磁铁位置调节系统和样品限位系统均被设置在样品台主体上。应用该测量装置的方法主要包括八个步骤。使用该装置可以直接对厚度为纳米级别、甚至达到单原子层厚度的超导薄膜样品的力学特性进行测量，并且利用压电陶瓷传感器替代传统的机械传感器，将力学量转变为电学量进行测量，简化了实验操作，提高了实验效率和力学测量的精度，提高了实验结果的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海交通大学 |
| 发明人： | 刘灿华;苏航 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810213416.X |
| 公开号： | CN108535103A |
| 代理机构： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 |
| 代理人： | 郑立 |
| 分类号： | G01N3/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3;G01N3/08 |
| 申请人地址： | 200240 上海市闵行区东川路800号 |
| 主权项： | 1.一种基于迈斯纳效应的超导薄膜力学特性测量装置，其特征在于，包括平台主体、受力传感器组件、磁铁位置调节系统和样品限位系统；所述平台主体包括冷台主体、样品台主体、十二个可支撑电极螺孔和四个样品台支撑螺孔；所述受力传感器组件包括受力传感器和受力传感器电极引线；所述磁铁位置调节系统包括至少四个固定螺丝、磁铁竖直支撑架、磁铁水平支撑架、磁铁位置控制旋钮、磁铁升降装置、磁铁固定平台、第一磁铁和第二磁铁；所述样品限位系统包括六个样品限位零件、六个限位螺丝、六个限位螺母和六个限位卡槽；所述受力传感器组件被设置在所述样品台主体上，待测样品被置于所述受力传感器组件上，通过所述固定螺丝使所述磁铁竖直支撑架固定直立于所述样品台主体上，所述样品限位系统被设置在所述样品台主体上。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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