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测量第三轨几何参数的轨道测量装置
| 专利名称： | 测量第三轨几何参数的轨道测量装置 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种测量第三轨几何参数的轨道测量装置，其技术方案要点是包括中央处理单元、安装在列车底部的激光廓形仪以及与中央处理单元连接的计算机，激光廓形仪均与包含有中央处理单元的电路板连接，每根轨道的上方设置有两个激光廓形仪，两个激光廓形仪分别为前后设置的前廓形仪和后廓形仪，该轨道测量装置还包括固定在列车底部的安装架，安装架呈长方形的框状且激光廓形仪位于安装架的四角处，安装架的侧方设置有朝向第三轨方向的第三轨激光廓形仪，达到了低速情况下对轨道不平顺的检测较为的准确，且方便对第三轨进行检测的目的。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京力铁轨道交通设备有限公司 |
| 发明人： | 程洪;王利洲;田宇鹏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201820200647.2 |
| 公开号： | CN207860183U |
| 代理机构： | 北京维正专利代理有限公司 11508 |
| 代理人： | 俞光明 |
| 分类号： | B61K9/08(2006.01)I;B;B61;B61K;B61K9;B61K9/08 |
| 申请人地址： | 100000 北京市朝阳区朝外大街乙6号2层0255 |
| 主权项： | 1.一种测量第三轨几何参数的轨道测量装置，其特征在于：包括中央处理单元、安装在列车底部的激光廓形仪以及与中央处理单元连接的计算机，激光廓形仪均与包含有中央处理单元的电路板连接，每根轨道(1)的上方设置有两个激光廓形仪，两个激光廓形仪分别为前后设置的前廓形仪(4)和后廓形仪(3)，该轨道(1)测量装置还包括固定在列车底部的安装架(2)，安装架(2)呈长方形的框状且激光廓形仪位于安装架(2)的四角处，安装架(2)的侧方设置有朝向第三轨方向的第三轨激光廓形仪(25)。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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