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原文传递用于X射线测量的锥形准直器

专利名称：	用于X射线测量的锥形准直器
摘要：	本公开涉及但不限于用于X射线测量的锥形准直器。X射线装置包括用于支撑样品(6)的样品台(4)、X射线源(2)以及能量扩散X射线检测器(8)。锥形X射线准直器(10)被设置在样品和X射线源之间或者在样品和能量扩散X射线检测器之间，该锥形X射线准直器包括围绕中心轴同中心布置的多个截锥，该截锥具有在样品上界定中心测量斑点的公共锥顶。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	荷兰;NL
申请人：	马尔文帕纳科公司
发明人：	古斯塔夫·克里斯蒂安·布龙斯;彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201711251653.7
公开号：	CN108132267A
代理机构：	北京安信方达知识产权代理有限公司 11262
代理人：	胡秋玲;郑霞
分类号：	G01N23/22(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/22
申请人地址：	荷兰阿尔默洛
主权项：	一种X射线荧光装置，包括：样品台，其用于支撑样品；X射线源；能量扩散X射线检测器；其特征在于锥形准直器，所述锥形准直器被设置在所述样品和所述X射线源之间或者在所述样品和所述能量扩散X射线检测器之间，所述锥形准直器包括围绕中心轴同中心布置的多个截锥，所述截锥具有在所述样品上界定中心测量斑点的公共锥顶，以用于将来自所述X射线源的X射线准直到所述中心测量斑点上。
所属类别：	发明专利