专利名称: |
一种长波发射荧光成像检测细胞中铝离子的方法 |
摘要: |
一种长波发射荧光成像检测细胞中铝离子的方法,是以荧光探针L,作为荧光成像检测细胞中微量Al3+的荧光成像探针,通过长波发射荧光成像检测细胞中微量Al3+,所述荧光探针L的化学结构式为:检测时,先用荧光探针L溶液与细胞培养使荧光探针L进入活性细胞内,再将有荧光探针L的活性细胞与Al3+培养,使探针与Al3+在活性细胞内反应生成能发射特征波长荧光的化合物,实现探针对活性细胞内Al3+离子染色成像,用激光共聚焦荧光显微镜观测培养后的活性细胞荧光图像。优点是:具有高度的选择性和良好的灵敏度,在较长的发射波长下荧光成像检测细胞中微量Al3+,且组织穿透力强,避免了光损伤和背景荧光自干扰。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
辽宁;21 |
申请人: |
渤海大学 |
发明人: |
钟克利;汤立军;曲秀莉;侯淑华;任欢欢;朱文慧;李秋莹;徐永霞;邓隆隆 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811159222.2 |
公开号: |
CN109115743A |
代理机构: |
锦州辽西专利事务所(普通合伙) 21225 |
代理人: |
王佳佳 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
121000 辽宁省锦州市松山新区科技路19号 |
主权项: |
1.一种长波发射荧光成像检测细胞中铝离子的方法,其特征是:是以荧光探针L,作为荧光成像检测细胞中微量Al3+的荧光成像探针,通过长波发射荧光成像检测细胞中微量Al3+,所述荧光探针L的化学结构式为: |
所属类别: |
发明专利 |