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原文传递一种用于芯片的检测装置

专利名称：	一种用于芯片的检测装置
摘要：	本实用新型公开了一种用于芯片的检测装置，包括底座、设置于所述底座上方且与所述底座平行间隔设置的顶盖、垂直枢接于所述底座和所述顶盖之间的第一丝杆和第二丝杆、水平螺纹连接于所述第一丝杆和第二丝杆之间用于承载芯片的定位板、埋设于所述顶盖内用于观测芯片的放大镜、以及埋设于所述底座内用于驱动所述第一丝杆和第二丝杆同步转动的驱动机构；所述定位板的上表面凹设有用于芯片定位的定位凹槽，所述定位凹槽位于所述放大镜的正下方。以此结构设计的检测装置，能够使得承载有芯片的定位板稳定可靠的上下运动，并通过埋设于定位板上方顶盖内的放大镜对芯片进行观测。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市源创数码科技有限公司
发明人：	潘颖彬
专利状态：	有效
申请号：	CN201820624945.4
公开号：	CN208313856U
代理机构：	北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：	胡彬
分类号：	G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市龙华新区龙华街道水斗新围工业区誉兴综合楼B栋一、二楼
主权项：	1.一种用于芯片的检测装置，其特征在于：包括底座、设置于所述底座上方且与所述底座平行间隔设置的顶盖、垂直枢接于所述底座和所述顶盖之间的第一丝杆和第二丝杆、水平螺纹连接于所述第一丝杆和第二丝杆之间用于承载芯片的定位板、埋设于所述顶盖内用于观测芯片的放大镜、以及埋设于所述底座内用于驱动所述第一丝杆和第二丝杆同步转动的驱动机构；所述定位板的上表面凹设有用于芯片定位的定位凹槽，所述定位凹槽位于所述放大镜的正下方。
所属类别：	实用新型