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穿透率检测方法、装置和计算机可读存储介质
| 专利名称： | 穿透率检测方法、装置和计算机可读存储介质 |
| 摘要： | 本发明公开了一种穿透率检测方法，所述穿透率检测方法包括以下步骤：获取待测试偏光片在测试点处的初始穿透率；获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试偏光片的穿透率。本发明还公开了一种穿透率检测装置和计算机可读存储介质。本发明使得偏光片的穿透率检测减小了背光波动和对位偏差导致的误差，提高了偏光片检测的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 重庆惠科金渝光电科技有限公司;惠科股份有限公司 |
| 发明人： | 何洋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811024525.3 |
| 公开号： | CN109142284A |
| 代理机构： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 |
| 代理人： | 胡海国 |
| 分类号： | G01N21/59(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 400000 重庆市巴南区界石镇石景路1号 |
| 主权项： | 1.一种穿透率检测方法，其特征在于，所述穿透率检测方法包括以下步骤：获取待测试光学膜片在测试点处的初始穿透率；获取与所述测试点处对应的穿透率修正值；根据所述初始穿透率和所述测试点对应的穿透率修正值确定所述待测试光学膜片的穿透率。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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