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原文传递一种折射率显微测量系统

专利名称：	一种折射率显微测量系统
摘要：	本发明适用于光学领域，提供了一种折射率显微测量系统，包括探测光产生装置、扫描探测装置和信号采集与处理装置，其中，扫描探测装置用于将探测光产生装置提供的探测光聚焦在样品片上，并对样品片进行扫描以产生实验光信号，该实验光信号中包含有样品片的折射率信息，信号采集与处理装置用于采集实验光信号，并对采集到的实验光信号进行包括光电转换、去噪和信息提取处理后，得到样品片的折射率信息。本发明提供的折射率显微测量系统在进行测量时，折射率的测量精度高。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳大学
发明人：	万超;辛自强;张崇磊;宋伟;闵长俊;方晖;袁小聪
专利状态：	有效
申请号：	CN201811041590.7
公开号：	CN109142273A
代理机构：	深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312
代理人：	袁文英
分类号：	G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号
主权项：	1.一种折射率显微测量系统，其特征在于，包括：探测光产生装置、扫描探测装置和信号采集与处理装置；所述探测光产生装置，用于提供具有紧聚焦特性的探测光；所述扫描探测装置，用于将所述探测光聚焦在样品片上，并对所述样品片进行扫描以产生实验光信号，所述实验光信号中包含有所述样品片的折射率信息；所述信号采集与处理装置，用于采集所述实验光信号，并对所述实验光信号进行包括光电转换、去噪和信息提取的处理后，得到所述样品片的折射率信息。
所属类别：	发明专利