专利名称: |
一种光谱检测仪和检测方法 |
摘要: |
本发明公开了一种光谱检测仪和检测方法,所述光谱检测仪包括一种光谱检测仪,包括光源;分光装置,对所述光源发射的光束进行分光处理;用于放置待测物的样品池;用于检测经过所述待测物的吸收光谱的检测器和微处理器;所述光谱检测仪还包括设置在所述样品池内部的传感器,用于测量待测物的高度;和高度调整装置;其中,所述微处理器根据所述传感器测量的待测物的高度来指令所述高度调整装置调整所述样品池的高度直至待测物的中心位置与所述光源发射的光束的中心轴重合。本发明提供的实施例能够将待测物完全处于光束的照射范围内,从而实现对待测物的全方位检测,并提高检测精度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
京东方科技集团股份有限公司 |
发明人: |
周丽佳;王志东;朱学辉;周全国;张俊瑞;兰荣华 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811156067.9 |
公开号: |
CN109187393A |
代理机构: |
北京正理专利代理有限公司 11257 |
代理人: |
付生辉 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |
主权项: |
1.一种光谱检测仪,包括光源;分光装置,对所述光源发射的光束进行分光处理;用于放置待测物的样品池;用于检测经过所述待测物的吸收光谱的检测器和微处理器;其特征在于,所述光谱检测仪还包括设置在所述样品池内部的传感器,用于测量待测物的高度;和高度调整装置;其中,所述微处理器根据所述传感器测量的待测物的高度来指令所述高度调整装置调整所述样品池的高度直至待测物的中心位置与所述光源发射的光束的中心轴重合。 |
所属类别: |
发明专利 |