专利名称: |
结构件的劣化侦测方法 |
摘要: |
本发明公开一种结构件的劣化侦测方法,包含以设置于结构件的感测器侦测结构件的时域振动波形。接着,以电连接感测器的处理器对时域振动波形执行时频域转换以取得结构件的频域振动波形的多个模态的实际模态参数。接着,分别将该些模态的实际模态参数与数据库中的模态参数数据比对,以判断结构件是否存在劣化缺陷。在结构件存在劣化缺陷时,更判断劣化缺陷的程度与位置。其中模态参数数据包含结构件分别在多个位置具有不同程度的劣化缺陷的多组对照模态参数。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
中国台湾;71 |
申请人: |
财团法人工业技术研究院 |
发明人: |
蔡曜隆;王立华 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201711422653.9 |
公开号: |
CN109254077A |
代理机构: |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人: |
陈小雯 |
分类号: |
G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
中国台湾新竹县 |
主权项: |
1.一种结构件的劣化侦测方法,其特征在于,包含:以设置于一结构件的一感测器侦测该结构件的一时域振动波形;以电连接该感测器的一处理器对该时域振动波形执行时频域转换以取得该结构件的一频域振动波形的多个模态的实际模态参数;分别将该些模态的实际模态参数与一数据库中的一模态参数数据比对,以判断该结构件是否存在一劣化缺陷;以及在判断该结构件存在该劣化缺陷时,更判断该劣化缺陷的程度与位置;其中该模态参数数据包含该结构件分别在多个位置具有不同程度的劣化缺陷的多组对照模态参数。 |
所属类别: |
发明专利 |