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一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法
| 专利名称： | 一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒物沉降质量测量装置及其沉降效率检测方法。包括用于电离空气的电离模块和用于测量的测量模块。电离模块包括电离区域和高压放电针，测量模块包括带电的石英晶片和滤膜，还包括测量石英晶片谐振频率的频率测量装置和测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。电离模块与测量模块连接，使颗粒物电离后能附着于用作集尘极的石英晶片中，并利用采集的数据计算出沉降效率，为最佳电极参数的确定提供了数据基础。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 发明人： | 李星辉;吴豪 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811172294.0 |
| 公开号： | CN109283105A |
| 代理机构： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 |
| 代理人： | 梁嘉琦 |
| 分类号： | G01N15/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区 |
| 主权项： | 1.一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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