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原文传递一种颗粒物沉降质量测量装置

专利名称：	一种颗粒物沉降质量测量装置
摘要：	本实用新型公开了一种颗粒物沉降质量测量装置。包括用于电离空气的电离模块和用于测量的测量模块。电离模块包括电离区域和高压放电针，测量模块包括带电的石英晶片和滤膜，还包括测量石英晶片谐振频率的频率测量装置和测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。电离模块与测量模块连接，使颗粒物电离后能附着于用作集尘极的石英晶片中，为最佳电极参数的确定提供了数据基础。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	清华大学深圳研究生院
发明人：	李星辉;吴豪
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201821632085.5
公开号：	CN209280512U
代理机构：	广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人：	梁嘉琦
分类号：	G01N15/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	518000 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
主权项：	1.一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于，包括：用于电离空气的电离模块和用于测量沉降颗粒物的质量变化值的测量模块；所述电离模块包括电离区域和设置于电离区域中的高压放电针；所述测量模块包括带电的石英晶片和用于测量石英晶片的谐振频率的频率测量装置，所述石英晶片设置于电离区域下侧；还包括用于收集未被沉降颗粒物的滤膜和用于测量滤膜中颗粒物质量的质量检测装置。 2.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括静电沉降流道，所述静电沉降流道形成所述的电离区域；所述静电沉降流道表面设置有微孔，所述高压放电针通过微孔插入至所述静电沉降流道内部。 3.根据权利要求2所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括壳体，所述测量模块设置于壳体上端，所述静电沉降流道下端与壳体相连接。 4.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：所述石英晶片的表面设置有导电金属片。 5.根据权利要求4所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括晶片托盘，所述石英晶片设置于晶片托盘中。 6.根据权利要求5所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：所述晶片托盘的上侧设有通孔，所述通孔的形状与所述石英晶片的上表面的导电金属片相同。 7.根据权利要求1所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括用于将空气吸入电离区域的空气泵，所述空气泵通过泵接口与滤膜相连接。 8.根据权利要求7所述的一种颗粒物沉降质量测量装置，其特征在于：还包括用于提供电压的供电探针，所述供电探针的导电金属片相连接。
所属类别：	实用新型