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原文传递一种纳米粒子粒径分布测试仪

专利名称：	一种纳米粒子粒径分布测试仪
摘要：	本实用新型公开一种纳米粒子粒径分布测试仪。所述测试仪的样品舱包括透明的舱壁；激光器位于样品舱的斜上方，聚光镜位于样品舱的斜下方，且激光器发出的激光穿过样品舱的舱壁到达聚光镜；聚光镜将接收的光信号传输至光电探测器，光电探测器的输出端与信号处理器连接；单片机与激光器的和射频振荡器的控制端均连接；永久磁铁包括极性相反的两个磁铁，分别位于样品舱舱壁的两侧；射频振荡器位于样品舱的底部；射频接收器的感应线圈缠绕固定于样品舱的舱壁的外侧；射频接收器的输出端与信号处理器连接；信号处理器的输出端与计算机连接，计算机用于计算纳米粒子的粒径分布参数。采用本实用新型的测试仪，可以提高测试精度。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海景瑞阳实业有限公司
发明人：	段兴汉;武桐
专利状态：	有效
申请号：	CN201821253347.7
公开号：	CN208443697U
代理机构：	北京高沃律师事务所 11569
代理人：	王戈
分类号：	G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	200000 上海市浦东新区秀浦路3188弄66号3、4楼
主权项：	1.一种纳米粒子粒径分布测试仪，其特征在于，所述测试仪包括：激光器、样品舱、单片机、永久磁铁、射频振荡器、射频接收器、聚光镜、光电探测器、信号处理器和计算机；所述样品舱包括透明的舱壁；所述激光器位于所述样品舱的斜上方，所述聚光镜位于所述样品舱的斜下方，且所述激光器发出的激光穿过所述样品舱的舱壁到达所述聚光镜；所述聚光镜将接收的光信号传输至所述光电探测器，所述光电探测器的输出端与所述信号处理器的第一输入端连接；所述单片机的第一端与所述激光器的控制端连接，用于调节所述激光器的脉冲信号；所述单片机的第二端与所述射频振荡器的控制端连接，用于调节所述射频振荡器的射频信号；所述永久磁铁包括极性相反的第一磁铁和第二磁铁；所述第一磁铁和所述第二磁铁分别位于所述样品舱舱壁的两侧；所述射频振荡器位于所述样品舱的底部；所述射频接收器的感应线圈缠绕固定于所述样品舱的舱壁的外侧；所述射频接收器的输出端与所述信号处理器的第二输入端连接；所述信号处理器的输出端与计算机连接，所述信号处理器用于对接收的信号进行调理，所述计算机用于根据信号处理器传输的信号计算纳米粒子的弛豫时间，进而获得纳米粒子的粒径分布参数。
所属类别：	实用新型