原文传递
用于加压流体的样品处理设备和其X射线分析器应用
| 专利名称： | 用于加压流体的样品处理设备和其X射线分析器应用 |
| 摘要： | 一种用于材料分析的样品处理设备/技术/方法，包括：样品载体，所述样品载体用于将加压样品(例如，LPG)呈现给所述分析器的样品焦点区域；可移除固定装置，所述可移除固定装置用于将所述加压样品装入到所述样品载体中；所述可移除固定装置包括至少一个端口以向所述固定装置和载体提供样品以及从所述固定装置和载体提供样品。所述样品处理设备可以包括保持器，其中所述样品载体使用所述保持器可移除地与所述固定装置组合，所述设备可插入到所述分析器中以用于样品分析；并且其中所述保持器包括孔，所述孔用于将所述样品从所述载体的靠近所述孔的薄膜式下端呈现到所述焦点区域。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | X射线光学系统公司 |
| 发明人： | 约瑟夫·J·斯班纳左拉·III;杰·波得特;陈泽伍;丹尼尔·顿汗姆 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201780017561.4 |
| 公开号： | CN109313146A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 张顺涛 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 美国纽约 |
| 主权项： | 1.一种用于材料分析器的样品处理设备，包括：样品载体，所述样品载体用于将加压样品呈现给所述材料分析器的样品焦点区域；可移除固定装置，所述可移除固定装置用于将所述加压样品装入到所述样品载体中；并且所述可移除固定装置包括至少一个端口以向所述固定装置和载体提供样品以及从所述固定装置和载体提供样品。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
