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用于检查金属表面的方法和相关联的装置
| 专利名称： | 用于检查金属表面的方法和相关联的装置 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于检查金属表面(12)的方法。所述方法包括以下步骤：提供第一激光源(14)，所述第一激光源(14)设置为生成具有介于1000nm与1100nm之间的第一波长和高于1W的功率的第一激光束；提供第二激光源(16)，所述第二激光源(16)设置为生成具有介于1500nm与1800nm之间的第二波长和高于1W的功率的第二激光束；启动所述第一和第二激光源中的一个激光源并且将所述第一或者第二激光束传输至光学器件(18)的所述入口(22)；利用由所述光学器件所投射的所述激光束扫描所述金属表面(12)；获取由所述金属表面(12)所发出的红外线辐射的至少一个图像。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 法国;FR |
| 申请人： | 法马通公司 |
| 发明人： | 扬立克·高立耶 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201780038025.2 |
| 公开号： | CN109313148A |
| 代理机构： | 北京鸿德海业知识产权代理事务所(普通合伙) 11412 |
| 代理人： | 王再芊 |
| 分类号： | G01N25/72(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 法国库尔布瓦 |
| 主权项： | 1.一种用于检查零部件(13)的金属表面(12)的方法，所述方法包括以下步骤：获得第一激光源(14)，所述第一激光源(14)设置为生成具有介于1000nm与1100nm之间的第一波长和大于1W的功率的第一激光束；获得第二激光源(16)，所述第二激光源(16)设置为生成具有介于1500nm与1800nm之间的第二波长和大于1W的功率的第二激光束；获得光学器件(18)，所述光学器件(18)包括用于激光束的入口(22)和设置为将所述激光束投射到所述金属表面上并且利用所述激光束(26)扫描所述金属表面(12)的装置；启动所述第一和第二激光源中的一个激光源并且将所述第一或者第二激光束传输至所述光学器件的所述入口；利用由所述光学器件所投射的所述第一或者第二激光束扫描所述金属表面(12)；获取由所述金属表面(12)所发出的红外线辐射的至少一个图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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