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离子交换化学强化含锂玻璃中拐点应力测量的改进方法
| 专利名称： | 离子交换化学强化含锂玻璃中拐点应力测量的改进方法 |
| 摘要： | 本文公开了包含拐点的离子交换化学强化含Li玻璃试样中拐点应力测量的改进方法。其中的一种方法包括对与临界角度位置相关联的TIR‑PR过渡位置的偏移进行补偿，其中，所述偏移是由于漏模的存在而导致的。另一种方法包括对采集的模谱图像应用选定标准来确保在拐点应力计算中使用高品质的图像。另一种方法结合了利用由多个试样得到的模谱所进行的拐点应力直接测量和间接测量，以取得相比于仅使用直接测量方法或仅使用间接测量方法更高的准确性和精确性。本文还公开了用于利用测得的模谱形成玻璃制品的品质控制方法、以及用于确保拐点应力测量准确性的相关技术。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 美国;US |
| 申请人： | 康宁股份有限公司 |
| 发明人： | R·C·安德鲁斯;R·V·鲁斯夫;V·M·施奈德 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810851867.6 |
| 公开号： | CN109307658A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 高宏伟;陈哲锋 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 美国纽约州 |
| 主权项： | 1.一种用于测量具有翘曲表面的化学强化含Li玻璃试样中的拐点应力的方法，所述方法包括：采集所述玻璃试样的TE模谱和TM模谱；对于所述TE模谱和TM模谱中的一种，测量全内反射(TIR)区段与部分内反射(PR)区段之间TIR‑PR过渡处光强度的TIR‑PR斜率；测量所述TE模谱和TM模谱中的至少一种的TIR‑PR过渡的TIR‑PR宽度；将测得的TIR‑PR斜率与TIR‑PR斜率阈值进行比较，将测得的TIR‑PR宽度与TIR‑PR宽度阈值进行比较，其中，所述TIR‑PR斜率阈值和所述TIR‑PR宽度阈值由具有平坦表面的参比玻璃试样定义；以及如果测得的TIR‑PR斜率大于所述TIR‑PR斜率阈值且测得的TIR‑PR宽度小于所述TIR‑PR宽度阈值，则使用所述TE模谱和所述TM模谱来测定所述拐点应力。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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