专利名称: |
单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法 |
摘要: |
本发明公开一种单色聚焦X射线光源及采用该光源分析低含量铅砷的方法,光源包括射线发射机构、前光栏、聚焦环和后光栏,前光栏对应于射线发射机构设置,聚焦环设置在前光栏前方,后光栏设置在聚焦环前方,聚焦环内侧的聚焦环内表面采用鼓形结构,前光栏、聚焦环内表面和后光栏同轴设置,其轴心与射线发射机构的中轴线相重合。本发明采用鼓形聚光器对X摄像进行单色、汇聚,从而形成高强度单色光,可对低含量砷元素进行检测。本发明照射样品的X射线恰好高于砷元素的K吸收限11.867keV,可高效激发砷元素的特征X射线但不会激发铅元素,完全避免了铅元素特征荧光的干扰。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市禾苗分析仪器有限公司 |
发明人: |
张红平 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811495391.3 |
公开号: |
CN109342479A |
代理机构: |
深圳市辉泓专利代理有限公司 44510 |
代理人: |
袁辉;刘玉珍 |
分类号: |
G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市宝安区福永街道福宁高新产业园公寓楼308 |
主权项: |
1.一种单色聚焦X射线光源,其特征是:所述的光源包括射线发射机构、前光栏、聚焦环和后光栏,前光栏对应于射线发射机构设置,聚焦环设置在前光栏前方,后光栏设置在聚焦环前方,聚焦环内侧的聚焦环内表面采用鼓形结构,前光栏、聚焦环内表面和后光栏同轴设置,其轴心与射线发射机构的中轴线相重合。 |
所属类别: |
发明专利 |