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基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法
| 专利名称： | 基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置，该固定装置包括：第一夹具组件和第二夹具组件，其中第一夹具组件至少包括第一固定夹，第二夹具组件至少包括第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹被设置为：分别夹持待测样品的第一端和第二端，第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动，以弯曲所述待测样品。此外，本发明还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统以及一种测量方法，测量方法采用测量系统进行测量，包括步骤：采用固定装置将待测样品夹持固定，并根据需要调整待测样品弯曲度；采用太赫兹时域光谱仪的发射端发出太赫兹信号，采用太赫兹时域光谱仪的接收端接收穿透待测样品的太赫兹信号，并进行分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学 |
| 发明人： | 付亚州;王长;谭智勇;曹俊诚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811251434.3 |
| 公开号： | CN109358001A |
| 代理机构： | 上海智信专利代理有限公司 31002 |
| 代理人： | 邓琪 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 200050 上海市长宁区长宁路865号 |
| 主权项： | 1.一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置，其特征在于，所述固定装置包括：第一夹具组件和第二夹具组件，其中第一夹具组件至少包括第一固定夹，第二夹具组件至少包括第二固定夹，所述第一固定夹和第二固定夹被设置为：分别夹持待测样品的第一端和第二端，所述第一固定夹和第二固定夹能够在第一水平方向上移动，以弯曲所述待测样品。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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