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一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统
| 专利名称： | 一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统 |
| 摘要： | 本发明公开一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统，具有频谱分辨 率高，测量速度快，测量结果信噪比高的优点，同时可以对样品进行太赫兹波 段的扫描成像。该发明基于非线性光学差频原理生成高功率且稳定的太赫兹 源，设计合理可行的光学与机械结构，利用计算机进行精准控制，使用高莱探 测器对太赫兹波进行双光路测量，最终实现高精度快速自动化测量样品太赫兹 波段透射谱和反射谱特性的目的。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 发明人： | 陆金星;黄志明;沈学民;侯 云;舒 嵘;王 彪;戴 宁;储君浩 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-05-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910051791.X |
| 公开号： | CN101551273 |
| 代理机构： | 上海新天专利代理有限公司 |
| 代理人： | 郭 英 |
| 分类号： | G01J3/28(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200083上海市玉田路500号 |
| 主权项： | 1.一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统，由主泵浦激光源(1)、 可调谐激光源(2)、光学延迟线(3)、近红外衰减片(4)(7)、起偏器(5)(8)、 缩束镜(6)(9)、反射镜(10)、分光棱镜(11)、非线性差频模块(12)、太 赫兹波准直模块(13)、锗滤波片(14)、分束镜(15)、透射式样品模块(16)、 反射式样品模块(17)、远红外衰减片(18)(19)、高莱探测器(20)(21)、 电机控制器(22)、数字示波器(23)和计算机(24)组成，其特征在于：所 述的测量系统具有非线性差频模块(12)，可以将主泵浦激光源(1)和可调谐 激光源(2)的激光光束在非线性晶体(12.1)中进行差频从而产生高功率的 太赫兹波；所述的测量系统具有透射式样品模块(16)和反射式样品模块(17)， 可以对样品(25)进行太赫兹波段的透射或者反射特性的测量；所述的测量系 统能够根据所要测量频率特性范围自动调整可调谐激光源(2)的波长从而改 变太赫兹波的频率；所述的测量系统用分束镜(15)将太赫兹信号分成两路信 号，并用高莱探测器(20)(21)同时对两路太赫兹信号进行探测(双光路探 测消除功率抖动影响)，用数字示波器(23)显示并将数据传给计算机(24) 进行科学计算和数据分析。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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