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一种太赫兹波段偏振特性参数测试装置
| 专利名称： | 一种太赫兹波段偏振特性参数测试装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种太赫兹波段偏振特性参数测试装置，涉及太赫兹时域光谱系统测量领域。其解决了现有的太赫兹时域光谱系统的测量对象仅限于各向同性材料，在对具有偏振特性的材料进行分析时，常规太赫兹时域光谱仪系统就无能为力的不足。该太赫兹波段偏振特性参数测试装置，包括三电极太赫兹光电导发射天线、样品和三电极太赫兹光电导探测天线，三电极太赫兹光电导发射天线、样品和三电极太赫兹光电导探测天线依次设置且中心点位于同一直线上，所述三电极太赫兹光电导发射天线产生0°、45°和90°三个方向的线偏振太赫兹波，所述三电极太赫兹光电导探测天线形成45°方向电极、竖直方向电极和水平方向电极。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 山东;37 |
| 申请人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 发明人： | 杨延召;李国超;吴斌 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811607018.2 |
| 公开号： | CN109490219A |
| 代理机构： | 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 |
| 代理人： | 陈海滨 |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 266555 山东省青岛市黄岛区经济技术开发区香江路98号 |
| 主权项： | 1.一种太赫兹波段偏振特性参数测试装置，其特征在于，包括三电极太赫兹光电导发射天线、样品和三电极太赫兹光电导探测天线，三电极太赫兹光电导发射天线、样品和三电极太赫兹光电导探测天线依次设置且中心点位于同一直线上，所述三电极太赫兹光电导发射天线产生0°、45°和90°三个方向的线偏振太赫兹波，所述三电极太赫兹光电导探测天线形成45°方向电极、竖直方向电极和水平方向电极。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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