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原文传递一种蓝宝石晶片缺陷的检测方法

专利名称：	一种蓝宝石晶片缺陷的检测方法
摘要：	本发明提供了一种蓝宝石晶片缺陷的检测方法，所述检测方法包括：在液体环境中，将光源垂直照射在预先清洗的蓝宝石晶片上，从而检测蓝宝石晶片缺陷；所述检测方法简单易行，且不需要昂贵的专业设备，大大降低了生产成本；效果直观，可通过肉眼直接鉴别；培训成本低，见效快，可立即投入使用，因此适用于蓝宝石晶片缺陷检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海超硅半导体有限公司
发明人：	姜兵兵;徐伟;沈思情;张俊宝;陈猛
专利状态：	有效
申请号：	CN201811346543.3
公开号：	CN109374633A
代理机构：	北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：	巩克栋
分类号：	G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	201617 上海市松江区石湖荡镇闵塔路808号3号厂房
主权项：	1.一种蓝宝石晶片缺陷的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：在液体环境中，将光源垂直照射在预先清洗的蓝宝石晶片上，从而检测蓝宝石晶片缺陷。
所属类别：	发明专利