原文传递
光谱分析的测量装置和在使用光谱分析的测量装置的情况下用于分析介质的方法
| 专利名称： | 光谱分析的测量装置和在使用光谱分析的测量装置的情况下用于分析介质的方法 |
| 摘要： | 光谱分析的测量装置，测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，测量装置包括接收装置，接收装置被设置用于接收待研究的介质，其中，微型分光仪被设置用于检测介质的、光谱分析的数据，其中，微型分光仪‑包括照射单元，照射单元被设置用于，以电磁辐射来辐射介质，并且‑包括检测单元，检测单元被设置用于，检测电磁辐射的、来自介质的方向的辐射份额，其中，‑将微型分光仪布置在接收装置的第一侧处，微型分光仪包括照射单元和检测单元，并且，‑将射束偏转装置布置在接收装置的、与第一侧对置的第二侧处，射束偏转装置被设置用于，将来自照射单元的电磁辐射的至少一部分偏转到检测单元的方向上。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 德国;DE |
| 申请人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 发明人： | B.施泰因;C.舍林;F.米歇尔;M.胡斯尼克;R.诺尔特迈尔;M.赫默斯多夫 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810897400.5 |
| 公开号： | CN109387483A |
| 代理机构： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
| 代理人： | 梁冰;李雪莹 |
| 分类号： | G01N21/25(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 德国斯图加特 |
| 主权项： | 1. 光谱分析的测量装置（100），所述测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，所述测量装置包括接收装置（102），所述接收装置被设置用于接收待研究的介质（104‘），其中，微型分光仪（101）被设置用于检测所述介质（104‘）的、光谱分析的数据，其中，所述微型分光仪（101）‑ 包括照射单元（1010），所述照射单元被设置用于，以电磁辐射（1010‘）来辐射所述介质（104‘），并且‑ 包括检测单元（1011），所述检测单元被设置用于，检测所述电磁辐射（1010‘）的、来自所述介质（104‘）的方向的辐射份额（1011“），其特征在于，‑ 将所述微型分光仪（101）布置在所述接收装置（102）的第一侧（1021）处，所述微型分光仪包括所述照射单元（1010）和所述检测单元（1011），并且，‑ 将射束偏转装置（103）布置在所述接收装置（102）的、与所述第一侧（1021）对置的第二侧（1022）处，所述射束偏转装置被设置用于，将来自所述照射单元（1010）的所述电磁辐射（1010‘）的至少一部分（1011‘）偏转到检测单元（1011）的方向上。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
