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一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备
| 专利名称： | 一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，包括一测试台装置，测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；点光源安装在测试平台的上方；遮光围挡安装在测试平台的上方，遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，点光源位于镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，待测膜夹片装置覆盖在遮光围挡的上方；待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，载膜片设置在压膜片的下方。通过测试台装置与待测膜夹片装置，使待检测光学膜与点光源之间保持确定的间距，从而在待测光学膜的上方呈现出特定的圆形光斑，通过测量圆形光斑的直径尺寸或者圆度，来判断待检测光学膜中是否合格。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江阴通利光电科技有限公司 |
| 发明人： | 周永南;冯煜 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201820874561.8 |
| 公开号： | CN208607158U |
| 代理机构： | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 |
| 代理人： | 蒋骏杰 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 214411 江苏省无锡市江阴市长泾镇长兴路8号 |
| 主权项： | 1.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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