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原文传递一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法及其检测设备

专利名称：	一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法及其检测设备
摘要：	本发明提供一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法及其检测设备，一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，包括如下步骤：步骤一，从产线上对微透镜阵列微结构光学膜进行取样，形成待检测光学膜；步骤二，将所述待检测光学膜进行固定，基材面向下，微透镜阵列面向上；在所述待检测光学膜下方设置点光源；所述点光源距所述待检测光学膜之间的距离为1‑5cm；步骤三，点光源启动，发出的光线透过所述待检测光学膜，在其上表面形成一个圆形光斑；步骤四，对所述圆形光斑进行标记、测量，并与标准样品形成的标准圆形光斑进行对比。一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，包括一测试台装置，还包括一待测膜夹片装置。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	江阴通利光电科技有限公司
发明人：	周永南;冯煜
专利状态：	有效
申请日期：	2018-06-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-04T00:00:00+0800
申请号：	CN201810578781.0
公开号：	CN109839383A
代理机构：	上海顺华专利代理有限责任公司
代理人：	蒋骏杰
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	214411 江苏省无锡市江阴市长泾镇长兴路8号
主权项：	1.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，从产线上对微透镜阵列微结构的光学膜进行取样，形成待检测光学膜；步骤二，将所述待检测光学膜进行固定，基材面向下，微透镜阵列面向上；在所述待检测光学膜下方设置点光源；所述点光源距所述待检测光学膜之间的距离为1-5cm；步骤三，点光源启动，发出的光线透过所述待检测光学膜，在其上表面形成一个圆形光斑；步骤四，对所述圆形光斑进行标记、测量，并与标准样品形成的标准圆形光斑进行对比，判断所述待检测光学膜内微结构的宏观质量好坏。 2.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，其特征在于：步骤四中，通过一CCD装置对圆形光斑进行采集，CCD装置连接一电脑主机，电脑主机内存储有标准样品形成的标准圆形光斑的标准图像信息，电脑主机内存储有样品是否合格的判断标准，电脑主机根据判断标准将标准图像信息以及CCD装置采集到的图像信息进行比较，分析样品是否合格。 3.根据权利要求1所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，其特征在于：所述点光源为单点LED光源，所述点光源的照度大于1000勒克斯。 4.根据权利要求1至3中任意一项所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，其特征在于：判断所述待检测光学膜内微结构的宏观质量好坏的判定标准包括以下两种：判定标准(1)，直径判断法：产生的光斑尺寸在标准光斑直径尺寸的±10％范围内，即判定为尺寸合格；判定标准(2)，判定标准还包括面积覆盖法：产生的光斑形状与标准圆形光斑的形状进行面积比对，不重复覆盖率<5％，认定为合格；所述不重复覆盖率计算方法为：将样品产生的光斑形状与标准圆形光斑的形状进行重叠；存在的不重叠区域，包括产生的光斑形状落在标准圆形光斑的形状内，未覆盖标准光斑的面积；存在的不重叠区域，还包括产生的光斑形状超出标准圆形光斑的形状，在标准圆形光斑的形状外的面积；上述两种面积在总和，为不重叠区域；将所述不重叠区域面积除以标准圆形光斑的形状的面积，为不重复覆盖率。 5.根据权利要求4所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测方法，其特征在于：判断标准(1)、判断标准(2)是对产生的光斑直径、外圆进行判断，判断不合格的产品，反馈给生产，采取母膜排查，调整树脂温度、更换粘度更低的树脂以及降低生产速率四种措施中的至少一种。 6.一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于，包括一测试台装置，所述测试台装置包括一测试平台、点光源以及遮光围挡；所述点光源安装在所述测试平台的上方，所述点光源的发光方向朝上；所述遮光围挡安装在所述测试平台的上方，所述遮光围挡的中央为一上下贯穿的镂空区域，所述点光源位于所述镂空区域；还包括一待测膜夹片装置，所述待测膜夹片装置覆盖在所述遮光围挡的上方，所述待测膜夹片装置、所述遮光围挡以及所述测试平台三者围成一容纳所述点光源的空腔；所述待测膜夹片装置包括一用于承载待检测光学膜的载膜片以及用于压设在待检测光学膜上方的压膜片，所述载膜片设置在所述压膜片的下方；所述测试台装置包括一对点光源散热的散热装置，所述散热装置固定在所述测试平台上。 7.根据权利要求6所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡包括一固定子遮光围挡，所述固定子遮光围挡固定安装在所述测试平台的上方。 8.根据权利要求7所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述遮光围挡还包括至少一个活动子遮光围挡，活动子遮光围挡堆叠在所述固定子遮光围挡的上方；所述固定子遮光围挡或活动子遮光围挡的外缘设有向上延伸的限位装置。 9.根据权利要求6所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：所述压膜片上设置有合格的待测光学膜经点光源照射构成的圆形光斑的外圆形状相匹配的圆形轮廓标识；所述压膜片上还设置有经过圆形轮廓标识的圆心的直线状标识。 10.根据权利要求6至9中任意一项所述的一种微透镜阵列微结构光学膜的瑕疵检测设备，其特征在于：还包括一CCD装置，所述CCD装置位于所述待测膜夹片装置的正上方，所述CCD装置的采集方向朝下。
所属类别：	发明专利