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原文传递光学元件检查设备

专利名称：	光学元件检查设备
摘要：	本发明提供了一种光学元件检查设备，光学元件检查设备用于检查一UV膜载具上的光学元件的良莠，光学元件检查设备包括一第一检查装置及一第二检查装置；第一检查装置用于拍摄取得各光学元件的顶面影像，并对各顶面影像进行分析，及根据分析结果判断出合格与不合格的光学元件并记录其位置；第二检查装置配置在第一检查装置之后，并只拍摄取得被第一检查装置判断为合格的光学元件的底面影像，对各底面影像进行分析，根据分析结果判断出合格与不合格的光学元件，及将合格的光学元件放置在一UV膜上。另外，包装装置由一UV膜载具及一UV膜所构成，UV膜载具的一UV承载膜与UV膜可相黏合，上述经检查为合格的多个光学元件被密封在UV承载膜与UV膜之间。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	旭东机械工业股份有限公司
发明人：	庄添财
专利状态：	有效
申请号：	CN201710817057.4
公开号：	CN109490329A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：	王春光
分类号：	G01N21/958(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	中国台湾台中市
主权项：	1.一种光学元件检查设备，其特征在于，所述光学元件检查设备用于检查一UV膜载具上的光学元件的良莠，所述光学元件检查设备包括：一第一检查装置，所述第一检查装置包括一取像模组及一第一分析判断模组；所述取像模组用于拍摄所述UV膜载具上的所述光学元件的顶面，以拍摄取得各所述光学元件的顶面影像，并且所述取像模组将所拍摄到的各所述顶面影像传送给所述第一分析判断模组；所述第一分析判断模组对各所述顶面影像进行分析，并且所述第一分析判断模组判断出不合格的所述光学元件并记录各不合格的所述光学元件的位置；及一第二检查装置，所述第二检查装置包括一第一移动载台、一转盘、设置在所述转盘上且沿圆周排列的多支升降吸取器、一摄像模组、一第二移动载台及一第二分析判断模组；每一支所述升降吸取器均能随着所述转盘的转动而依序经过所述第一移动载台、所述摄像模组及所述第二移动载台，且当其中一支所述升降吸取器到达所述第一移动载台的上方的一预备取出位置时，另外两支所述升降吸取器就会刚好分别停在所述摄像模组的正上方与所述第二移动载台的上方的一预备放置位置；每一所述升降吸取器每次到达所述预备取出位置时就会进行从所述UV膜载具上吸走一片所述光学元件的动作；每一所述升降吸取器连同所吸住的所述光学元件每次到达所述摄像模组的正上方时，所述摄像模组就拍摄所述光学元件的底面，以拍摄得到各所述光学元件的底面影像，并将各所述底面影像传送给所述第二检查装置的所述第二分析判断模组；所述第二检查装置的所述第二分析判断模组对各所述底面影像进行分析，并且所述第二检查装置的所述第二分析判断模组判断出不合格的所述光学元件；各所述升降吸取器所吸住的所述光学元件中若有被所述第二检查装置的所述第二分析判断模组判断为一合格的所述光学元件的，则吸住合格的所述光学元件的所述升降吸取器就会在到达所述预备放置位置时，进行一放置动作，以将合格的所述光学元件释放在所述第二移动载台上的一UV膜，并使合格的所述光学元件被黏于所述UV膜具有黏性的一面；各所述升降吸取器所吸住的所述光学元件中若有被所述第二检查装置的所述第二分析判断模组判断为一不合格的所述光学元件的，则吸住不合格的所述光学元件的所述升降吸取器在到达所述预备放置位置时不进行所述放置动作，直到吸住不合格的所述光学元件的所述升降吸取器随着所述转盘转动到达一废料释放位置才释放不合格的所述光学元件，不合格的所述光学元件由一废料收集装模组收集。
所属类别：	发明专利