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基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法
| 专利名称： | 基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法，属于工业测量技术领域。光源出射的光经起偏器起偏后得到线偏振光，通过透明物质时偏振面发生旋转，旋转角度的大小与旋光度成正比，线偏振光经过1/4波片后变为圆偏振光，即两束等振幅正交线偏振光o光和e光，由于晶体的双折射，通过晶体尖劈的o光和e光产生光程差，经检偏器产生干涉，转换为具有暗纹的条形光斑，条形光斑随线偏振光偏振面的旋转直线移动，移动的方向即为旋光方向，通过PSD位移传感器测量条形光斑移动的距离和方向，实现对透明物质旋光度的测量。优点在于：无运动器件、测量模式与光功率的大小无关、自动确定旋光方向、分辨率高，实用性强。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 龙岩学院 |
| 发明人： | 徐启峰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811509724.3 |
| 公开号： | CN109520936A |
| 代理机构： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 |
| 代理人： | 王怡敏 |
| 分类号： | G01N21/23(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 364012 福建省龙岩市新罗区东肖北路1号 |
| 主权项： | 1.一种基于晶体尖劈干涉实现的旋光度测量方法，其特征在于：光源（1）出射的光经起偏器（2）起偏后得到线偏振光，通过透明物质（3）时由于透明物质旋光性的作用使线偏振光的偏振面发生旋转，旋转角度的大小与旋光度成正比，线偏振光经过1/4 波片（4）后变为圆偏振光，即两束等振幅正交线偏振光o光和e光，由于晶体的双折射，通过晶体尖劈（5）的o光和e光产生光程差，经检偏器（6）产生干涉，转换为具有暗纹的条形光斑，条形光斑随线偏振光偏振面的旋转直线移动，移动的方向即为旋光方向，通过PSD位移传感器（7）测量条形光斑移动的距离和方向，实现对透明物质旋光度的测量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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