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原文传递用于检测分析物的方法和装置

专利名称：	用于检测分析物的方法和装置
摘要：	一种传感器提供了一种通过竞争性结合FRET分析试剂盒测量样品中分析物(诸如葡萄糖)的方法。多波长辐射源包括两个或更多个不同的波长(21)，使至少两个波长(21)位于所述FRET分析试剂盒的所述荧光能量供体的吸收带(1)内，以及至少一个那些波长(21)还位于所述FRET分析试剂盒的所述能量受体的吸收带(2)内，产生光谱渗漏现象。因为渗漏程度随着激发波长(21)而变化，所述多波长源允许所述传感器提供多个测量通道，其能够用于降低分析物测量中的误差。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	英国;GB
申请人：	NDM科技有限公司
发明人：	迪万·法祖勒·侯克·乔杜里;斯蒂芬·摩尔
专利状态：	有效
申请日期：	2017-08-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201780077882.3
公开号：	CN110088597A
代理机构：	深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人：	颜思晨
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	英国莱斯特郡
主权项：	1.一种用于检测分析物的传感器，其包括： a)荧光共振能量转移(FRET)分析试剂盒，将被置于与含有所述分析物的样品接触，所述FRET分析试剂盒包括荧光能量供体部分和能量受体部分，其中所述能量受体的吸收带(2)至少部分地与所述荧光能量供体的发射带(3)和吸收带(1)两者重叠； b)用于激发所述FRET分析试剂盒的多波长辐射源，所述源包括两个或更多个不同的可分辨波长(21)，使至少两个所述波长(21)位于所述荧光能量供体的吸收带(1)内，以及至少一个所述波长(21)位于所述荧光能量供体和所述能量受体的吸收带(1,2)内；以及 c)一个或多个检测器，用于在通过来自所述多波长辐射源的辐射激发时检测从所述FRET分析试剂盒发射的辐射。 2.根据权利要求1所述的装置，其中所述能量受体是荧光能量受体。 3.根据权利要求2所述的装置，其中所述检测器还检测从所述荧光能量受体发射的辐射。 4.根据前述任一项权利要求所述的装置，其中所述多波长辐射源包括多个激光二极管。 5.根据前述任一项权利要求所述的装置，其中所述分析物是葡萄糖。 6.根据前述任一项权利要求所述的装置，其中所述检测被包含在水凝胶中。 7.根据前述任一项权利要求所述的装置，其中所述FRET分析试剂盒位于光纤的一端，所述光纤将来自所述多波长源的辐射传输到所述FRET分析试剂盒，并且将来自所述FRET分析试剂盒的辐射传输到所述一个或多个检测器。 8.根据前述任一项权利要求所述的装置，进一步包括包含算法的电路，以比较响应于每个激发波长的来自所述FRET分析试剂盒发射的被检测的辐射，并且计算所述相应的分析物浓度。 9.根据前述任一项权利要求所述的装置，其中所述FRET分析试剂盒是竞争性结合FRET分析试剂盒。 10.一种用于检测分析物的方法，其包括： a)将含有所述分析物的样品与FRET分析试剂盒接触，所述FRET分析试剂盒包括荧光能量供体部分和能量受体部分，其中所述能量受体的吸收带(2)均与所述荧光能量供体的发射带(3)和吸收带(1)两者至少部分地重叠； b)用两个或更多个不同的可分辨波长(21)激发所述FRET分析试剂盒，使至少两个所述波长(21)位于所述荧光能量供体的吸收带(1)内，以及至少一个所述波长位于所述荧光能量供体和所述能量受体的吸收带(1,2)内；以及 c)在通过来自所述多波长辐射源的辐射激发时检测从所述FRET分析试剂盒发射的辐射。 11.根据权利要求10所述的方法，进一步包括比较响应于至少一对激发波长的每一个的来自所述FRET分析试剂盒发射的被检测的辐射，以计算所述相应的分析物浓度。 12.根据权利要求10或者权利要求11所述的方法，进一步包括检测从所述荧光能量受体发射的荧光辐射的步骤。 13.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，其中所述分析物是葡萄糖。 14.根据权利要求10至13中任一项所述的方法，其中所述FRET分析试剂盒是竞争性结合FRET分析试剂盒。
所属类别：	发明专利