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原文传递检测涂层材料应变失效的方法和装置、系统及存储介质

专利名称：	检测涂层材料应变失效的方法和装置、系统及存储介质
摘要：	本发明公开了一种检测涂层材料应变失效的方法和装置、系统及介质，其中，检测涂层材料应变失效的方法包括：获取涂层材料拉伸或压缩时的应变检测数据；根据应变检测数据生成应变变化曲线；根据涂层材料的应变变化规律确定应变变化曲线的拐点；根据拐点判断应变检测的有效性。本发明的检测涂层材料应变失效的方法和装置、系统，可以判断应变检测数据的有效性，利于提高涂层材料损伤分析结果的准确性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国人民解放军陆军装甲兵学院
发明人：	王海斗;底月兰;邢志国;董丽虹;马国政;王乐;刘韬
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-05T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201910368713.6
公开号：	CN110082207A
代理机构：	北京景闻知识产权代理有限公司
代理人：	李芳
分类号：	G01N3/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N3
申请人地址：	100072 北京市丰台区长辛店杜家坎21号
主权项：	1.一种检测涂层材料应变失效的方法，其特征在于，所述方法包括：获取涂层材料拉伸或压缩时的应变检测数据；根据所述应变检测数据生成应变变化曲线；根据所述涂层材料的应变变化规律确定所述应变变化曲线的拐点；根据所述拐点判断应变检测的有效性。 2.根据权利要求1所述的检测涂层材料应变失效的方法，其特征在于，根据所述涂层材料的应变变化规律确定所述应变变化曲线的拐点，包括：当所述涂层材料的应变变化达到第一应变阈值时，对应所述应变变化曲线上的数据点为第一拐点。 3.根据权利要求2所述的检测涂层材料应变失效的方法，其特征在于，根据所述涂层材料的应变变化规律确定所述应变变化曲线的拐点，还包括：应变逐渐增大且呈周期性升降变化，当所述应变下降幅度小于第二应变阈值时，对应所述应变变化曲线上的数据点为第二拐点。 4.根据权利要求3所述的检测涂层材料应变失效的方法，其特征在于，根据所述涂层材料的应变变化规律确定所述应变变化曲线的拐点，还包括：应变直线上升且应变变化率大于变化率阈值，当应变相对于所述第二拐点处的应变变化大于第三应变阈值且所述应变突降且降低幅度大于第四应变阈值时，对应所述应变变化曲线上的数据点为第三拐点。 5.根据权利要求4所述的检测涂层材料应变失效的方法，其特征在于，根据所述拐点确定应变检测的有效性，包括：当应变检测值达到对应所述应变变化曲线的所述第三拐点的值之后，再获取到的变检测数据为无效数据。 6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述的检测涂层材料应变失效的方法。 7.一种检测涂层材料应变失效的装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，配置为获取涂层材料拉伸或压缩时的应变检测数据；生成模块，配置为根据所述应变检测数据生成应变变化曲线；确定模块，配置为根据所述涂层材料的应变变化规律确定所述应变变化曲线的拐点；判断模块，配置为根据所述拐点判断应变检测的有效性。 8.一种检测涂层材料应变的系统，其特征在于，所述系统包括：拉伸机，用于拉伸或压缩涂层材料；扫描电子显微镜，所述涂层材料和所述拉伸机放置在所述扫描电子显微镜的样品仓，所述扫描电子显微镜用于采集所述涂层材料拉伸或压缩时的扫描图像；处理装置，用于根据所述扫描图像获得所述涂层材料拉伸或压缩时的应变检测数据；如权利要求7所述的检测涂层材料应变失效的装置。
所属类别：	发明专利