专利名称: |
检测涂层材料损伤的方法和系统 |
摘要: |
本申请提出了一种检测材料损伤的方法和系统,其中,涂层材料和拉伸机放置在扫描电子显微镜的样品仓中,检测涂层材料损伤的方法包括:采集涂层材料在拉伸或压缩过程中的扫描图像;通过数字图像相关法对所述扫描图像进行处理;根据处理后的所述扫描图像分析所述涂层材料的损伤变化。本申请的检测材料损伤的方法和系统,可以实现对涂层材料在拉伸或压缩时的原位的、微观下的检测,提高材料损伤机理观察和分析的准确性。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国人民解放军陆军装甲兵学院 |
发明人: |
王海斗;底月兰;邢志国;董丽虹;马国政;王乐;刘韬 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-05T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-05T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910369201.1 |
公开号: |
CN109975123A |
代理机构: |
北京景闻知识产权代理有限公司 |
代理人: |
李芳 |
分类号: |
G01N3/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
申请人地址: |
100072 北京市丰台区长辛店杜家坎21号 |
主权项: |
1.一种检测涂层材料损伤的方法,其特征在于,涂层材料和拉伸机放置在扫描电子显微镜的样品仓中,所述方法包括: 采集所述涂层材料在拉伸或压缩过程中的扫描图像; 通过数字图像相关法对所述扫描图像进行处理; 根据处理后的所述扫描图像分析所述涂层材料的损伤变化。 2.根据权利要求1所述的检测涂层材料损伤的方法,其特征在于,所述涂层材料分别喷涂在两个试样基体上,其中,一个试样基体上的涂层材料的上表面作为扫描面,另一个试样基体上的涂层材料的侧面作为扫描面。 3.根据权利要求1或2所述的检测涂层材料损伤的方法,其特征在于,所述采集所述涂层材料在拉伸或压缩过程中的扫描图像,包括: 采集在拉伸或压缩过程中所述涂层材料上表面的扫描图像,以及,采集在拉伸或压缩过程中所述涂层材料侧面的扫描图像。 4.根据权利要求2所述的检测涂层材料损伤的方法,其特征在于,在将所述涂层材料放置在所述样品仓之前,所述方法还包括: 通过纳米压印工艺在所述涂层材料的扫描面上标记散斑。 5.根据权利要求3所述的检测涂层材料损伤的方法,其特征在于,所述试样基体可拆卸地设置在所述拉伸机上。 6.根据权利要求1所述的检测涂层材料损伤的方法,其特征在于,所述涂层材料包括脆性涂层材料。 7.一种检测涂层材料损伤的系统,其特征在于,所述系统包括: 拉伸机,用于对涂层材料施加力以拉伸或压缩所述涂层材料; 扫描电子显微镜,所述涂层材料和所述拉伸机放置在所述扫描电子显微镜的样品仓中,所述扫描电子显微镜用于采集所述涂层材料在拉伸或压缩过程中的扫描图像; 处理装置,用于通过数字图像相关法对所述扫描图像进行处理,根据处理后的所述扫描图像分析所述涂层材料的损伤变化。 8.根据权利要求8所述的检测涂层材料损伤的系统,其特征在于, 所述涂层材料分别喷涂在两个试样基体上,其中,一个试样基体上的涂层材料的上表面作为扫描面,另一个试样基体上的涂层材料的侧面作为扫描面; 所述扫描电子显微镜在扫描图像时具体用于,采集在拉伸或压缩过程中所述涂层材料上表面的扫描图像,以及,采集在拉伸或压缩过程中所述涂层材料侧面的扫描图像。 9.根据权利要求7所述的检测涂层材料损伤的系统,其特征在于,所述试样基体可拆卸地设置在所述拉伸机上。 10.根据权利要求8所述的检测涂层材料损伤的系统,其特征在于,所述系统还包括标记装置,所述标记装置用于在将所述涂层材料放置在所述样品仓之前,通过纳米压印工艺在所述涂层材料的扫描面上标记散斑。 |
所属类别: |
发明专利 |