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原文传递散斑标记方法和检测涂层材料损伤的方法

专利名称：	散斑标记方法和检测涂层材料损伤的方法
摘要：	本发明公开了一种散斑标记方法和检测涂层材料损伤的方法，其中，该散斑标记方法包括：根据涂层材料表面的粗糙度确定涂层材料类型；根据涂层材料类型选择散斑标记方式；采用选择的散斑标记方式在涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑。本发明的散斑标记方法和检测涂层材料损伤的方法，可以在涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑，为在纳米级下数字图像相关法对扫描图像的测量提供基础，利于更加精准地推断涂层材料的损伤机理。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国人民解放军陆军装甲兵学院
发明人：	底月兰;王海斗;邢志国;董丽虹;马国政;王乐;刘韬
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-05T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201910369209.8
公开号：	CN109959543A
代理机构：	北京景闻知识产权代理有限公司
代理人：	李芳
分类号：	G01N1/28(2006.01);G;G01;G01N;G01N1
申请人地址：	100072 北京市丰台区长辛店杜家坎21号
主权项：	1.一种散斑标记方法，其特征在于，包括：根据涂层材料表面的粗糙度确定涂层材料类型；根据所述涂层材料类型选择散斑标记方式；采用选择的所述散斑标记方式在所述涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑。 2.根据权利要求1所述的散斑标记方法，其特征在于，所述涂层材料包括第一类涂层材料和第二类涂层材料，其中，所述第一类涂层材料表面的粗糙度小于第一粗糙度阈值，所述第二类涂层材料表面的粗糙度大于第二粗糙度阈值，所述第一粗糙度阈值小于所述第二粗糙度阈值。 3.根据权利要求2所述的散斑标记方法，其特征在于，根据所述涂层材料类型选择散斑标记方式，包括：对于所述第一类涂层材料，选择电子束光刻方式标记散斑；或者，对于所述第二类涂层材料，选择纳米颗粒自组装方式标记散斑。 4.根据权利要求3所述的散斑标记方法，其特征在于，采用所述电子束光刻方式在所述第一类涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑，包括：在所述第一类涂层材料的待测量区域的表面上旋涂聚甲基丙烯酸甲酯层；在所述聚甲基丙烯酸甲酯层上进行电子束光刻以形成纳米级的散斑。 5.根据权利要求4所述的散斑标记方法，其特征在于，在旋涂聚甲基丙烯酸甲酯层之前，根据所述电子束光刻方式在所述第一类涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑还包括对所述待测量区域的表面进行打磨并进行初步抛光；以及在完成所述初步抛光后，采用二氧化硅胶体抛光剂对所述待测量区域的表面进一步抛光。 6.根据权利要求3所述的散斑标记方法，其特征在于，采用所述纳米颗粒自组装方式在所述第二类涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑，包括：将所述第二类涂层材料完全浸入柠檬酸稳定的纳米金悬浮液，以在所述第二类涂层材料的待测量区域表面上形成纳米级的散斑。 7.根据权利要求6所述的散斑标记方法，其特征在于，在将所述第二类涂层材料浸入柠檬酸稳定的纳米金悬浮液之前，采用所述纳米颗粒自组装方式在所述第二类涂层材料的待测量区域标记纳米级的散斑，还包括：对所述待测量区域的表面进行打磨并进行初步抛光；在完成所述初步抛光后，采用二氧化硅胶体抛光剂对所述待测量区域的表面进一步抛光；采用去离子水对所述第二类涂层材料表面进行第一次清洗；采用丙酮和甲醇对所述第二类涂层材料进行超声清洗；采用去离子水对所述第二类涂层材料的表面进行第二次清洗并风干。 8.一种检测涂层材料损伤的方法，其特征在于，涂层材料和拉伸机放置在扫描电子显微镜的样品仓中，所述方法包括：在将所述涂层材料放入所述样品仓之前，采用如权利要求1-7任一项所述的散斑标记方法在所述涂层材料的待测试区域的表面上标记纳米级散斑；通过扫描电子显微镜采集所述涂层材料在拉伸或压缩过程中的扫描图像；通过数字图像相关法对所述扫描图像进行处理；根据处理后的所述扫描图像分析所述涂层材料的损伤变化。
所属类别：	发明专利