专利名称: |
一种碳酸镧咀嚼片中杂质碱式碳酸镧的定量测定方法 |
摘要: |
本发明提供了一种碳酸镧咀嚼片中杂质碱式碳酸镧的定量测定方法,所述碱式碳酸镧为碱式碳酸镧晶型I和/或碱式碳酸镧晶型II,采用X射线衍射法,对供试品和对照品进行测定,并以2θ角24.5°±0.2°作为碱式碳酸镧晶型I的特征衍射峰;以2θ角为38.2°±0.2°作为碱式碳酸镧晶型II的特征衍射峰,进行直线回归。本发明提供的方法定量测定碳酸镧咀嚼片中杂质碱式碳酸镧的含量,快速,可操作性强且具有良好的准确度及精密度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京悦康科创医药科技股份有限公司 |
发明人: |
宋更申;安百锋;李同进;张婷婷 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-22T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-06T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910428450.3 |
公开号: |
CN110095489A |
代理机构: |
北京路浩知识产权代理有限公司 |
代理人: |
王文君;陈征 |
分类号: |
G01N23/207(2006.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
100176 北京市大兴区经济技术开发区景园街6号2号楼四层 |
主权项: |
1.一种碳酸镧咀嚼片中杂质碱式碳酸镧的定量测定方法,所述碱式碳酸镧为碱式碳酸镧晶型I和/或碱式碳酸镧晶型II,其特征在于,采用X射线衍射法,对供试品和对照品进行测定,并以2θ角24.5°±0.2°作为碱式碳酸镧晶型I的特征衍射峰;以2θ角为38.2°±0.2°作为碱式碳酸镧晶型II的特征衍射峰,进行直线回归。 2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,以2θ角24.5°作为碱式碳酸镧晶型I的特征衍射峰;和/或,以2θ角为38.2°作为碱式碳酸镧晶型II的特征衍射峰。 3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述供试品的制备:取碳酸镧咀嚼片研细,过筛,精密称取过筛后的细粉,即得;和/或,所述对照品的制备:取平行制备的另一份供试品,向其中加入一定质量的碱式碳酸镧晶型I粉末和/或碱式碳酸镧晶型II粉末,即得。 4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述供试品的制备:取碳酸镧咀嚼片研细,过100目筛,精密称取过筛后的细粉1261mg,含碳酸镧577.2m,即得。 5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对照品的制备:取平行制备的另一份供试品1261mg,优选含碳酸镧577.2mg,向其中加入过100目筛的24.95mg碱式碳酸镧晶型I粉末和/或过100目筛的27.72mg碱式碳酸镧晶型II粉末,即得。 6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,以样品中加入碱式碳酸镧的含量为横坐标,相应杂质特征衍射峰的衍射强度为纵坐标,进行直线回归。 7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,采用θ~2θ联动连续扫描,扫描间隔0.1,扫描速率为0.4s/step,在衍射角2θ为15°~50°的范围内单次扫描。 8.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,以Cu靶为光源。 9.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,其特征在于,光管电压为40KV,光管电流为40mA。 10.根据权利要求1-9中任一项所述的方法,其特征在于,包括以下步骤: 1)供试品的制备:取10片碳酸镧咀嚼片研细,混合均匀,取粉末过100目筛,精密称取过筛后的细粉1261mg,含碳酸镧577.2mg,平行称取两份;取一份细粉作为供试品; 2)对照品的制备:取另一份所述细粉加入24.95mg过100目筛的碱式碳酸镧晶型I、27.72mg过100目筛的碱式碳酸镧晶型II,混合均匀,作为对照品; 3)测定及计算:采用X射线衍射法测定,以Cu靶为光源,θ~2θ联动连续扫描,扫描间隔0.1,扫描速率为0.4s/step,在衍射角2θ为15°~50°的范围内单次扫描,对所述供试品和所述对照品测定,每个样品平行测定3次;以2θ角24.5°作为碱式碳酸镧晶型I的特征衍射峰,以2θ角38.2°作为碱式碳酸镧晶型II的特征衍射峰,以样品中加入碱式碳酸镧的含量为横坐标,相应杂质特征衍射峰的衍射强度为纵坐标,进行直线回归;当供试品中有碱式碳酸镧晶型I、碱式碳酸镧晶型II的特征衍射峰,用直线回归方程计算其含量。 |
所属类别: |
发明专利 |