专利名称: | 一种碳酸镧或其制剂中碱式碳酸镧杂质的检定方法 |
摘要: | 本发明提供了一种在固态下检定碳酸镧原料或其制剂中碱式碳酸镧杂质的方法。将碳酸镧或其制剂充分研细后,加入不同量的碱式碳酸镧,再将该混合物与刚玉按一定比例充分混合均匀,制备系列标准曲线样品,用粉末X‑射线衍射法对各标准曲线样品进行扫描,绘制标准曲线,得到线性方程。将待测碳酸镧或其制剂与刚玉按一定比例充分混合均匀,制备成供试品,同法测定,通过将供试品中碱式碳酸镧与刚玉特征峰衍射强度的比值代入线性方程中,从而计算出样品中碱式碳酸镧的含量。本发明的方法可用于分析检测碳酸镧或碳酸镧制剂中的碱式碳酸镧杂质,该方法操作简便、线性范围宽、线性关系良好、精密度好、准确性高、耐用性好、检测灵敏度高。 |
专利类型: | 发明专利 |
国家地区组织代码: | 北京;11 |
申请人: | 北京华睿鼎信科技有限公司 |
发明人: | 安明;常珍;况斌;祝江业;张婵娟;杨清燕 |
专利状态: | 有效 |
申请日期: | 2018-06-08T00:00:00+0800 |
发布日期: | 2019-12-17T00:00:00+0800 |
申请号: | CN201810584092.0 |
公开号: | CN110579499A |
分类号: | G01N23/2005(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: | 100023 北京市大兴区亦庄经济技术开发区经海四路2号BDA国际港3号楼3单元303室 |
所属类别: | 发明专利 |