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原文传递一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置及方法

专利名称：	一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置及方法
摘要：	本发明提供一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置，包括固定支座、支杆、定位锥、夹持环、旋转支杆和测量刀具，支杆的底端安装在固定支座上，支杆的上部固定夹持环，夹持环夹紧冷指，冷指的底端中心与定位锥的尖端相抵，定位锥安装在固定支座上，旋转支杆的一端与夹持环滑动连接，旋转支杆的另一端连接测量刀具。本发明用于固定表面有蜡沉积物的冷指并对其进行多方位精确测量与取样。可以实现对冷指表面蜡沉积物进行精确测厚操作，同时，可以通过刻度尺进行读数参考，对不同厚度的沉积物进行分层取样。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	辽宁;21
申请人：	辽宁石油化工大学
发明人：	范开峰;刘锰;李思;王卫强;王璐;于龙风;李嘉宁;郝博瀚;佟军廷
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201910348623.0
公开号：	CN110108511A
代理机构：	辽宁沈阳国兴知识产权代理有限公司
代理人：	姜婷婷
分类号：	G01N1/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N1
申请人地址：	113001 辽宁省抚顺市望花区丹东路西段1号
主权项：	1.一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置，其特征在于包括固定支座、支杆、定位锥、夹持环、旋转支杆和测量刀具，支杆的底端安装在固定支座上，支杆的上部固定夹持环，夹持环夹紧冷指，冷指的底端中心与定位锥的尖端相抵，定位锥安装在固定支座上，旋转支杆的一端与夹持环滑动连接，旋转支杆的另一端连接测量刀具。 2.根据权利要求1所述的一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置，其特征在于所述固定支座上安装有支撑底座，支撑底座的上表面设有滑槽，滑动卡板滑动设置在滑槽内，连杆的一端安装在滑动卡板上，连杆的另一端与定位锥的底端相连，连杆上沿轴向设有镂空槽，十字花螺杆设置在镂空槽内，所述的滑动卡板的上方设有把手，把手带动定位锥沿支撑底座上的滑槽滑动，滑动到指定位置后通过十字花螺杆拧紧固定。 3.根据权利要求1所述的一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置，其特征在于所述的夹持环包括两个半圆状主体，拧紧螺杆穿过两个半圆状主体的安装耳将其紧固，半圆状主体的侧壁上设置通孔，通孔的内壁设有弧形卡槽，主变径杆穿过通孔，主变径杆的外表面设有弹性簧片，弹性簧片卡紧在弧形卡槽内，主变径杆伸入半圆状主体的一端连接圆弧板，圆弧板的内表面设有橡胶层，半圆状主体的内壁与主变径杆相对应设有从变径杆，从变径杆连接有从圆弧板；所述的半圆状主体的上下表面设有滑道。 4.根据权利要求1所述的一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置，其特征在于所述的旋转支杆的一端设有滑块凸起，滑块凸起与夹持环滑道相匹配，滑块凸起滑动设置在滑道内，旋转支杆的另一端设有安装槽，滑杆安装在安装槽内，滑杆上套装有滑块。 5.根据权利要求1所述的一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样装置，其特征在于所述测量刀具包括刀头、刀杆、大进给齿轮盘和小进给齿轮盘，刀头设置在刀杆的顶端；刀杆上设有大小两排齿形结构，所述的大进给齿轮盘、小进给齿轮盘分别与刀杆上的大小齿形结构啮合；所述的大进给齿轮盘和小进给齿轮盘设置在滑块的内腔，大进给齿轮盘连接有刻度盘，每一刻度表示1mm，量程20mm，刻度盘设置在滑块的外表面，刻度盘的每格外围为圆形凹槽，每个凹槽距离为1mm，刻度盘的中间设有方便转动大进给齿轮盘的螺钮，滑块上与刻度盘圆形凹槽相对应设有限位孔，限位孔内设有弹簧，弹簧的顶端连接弹簧弹子，弹簧弹子与圆形凹槽相匹配；所述的小进给齿轮盘连接有操作旋钮，操作旋钮设置在滑块外表面；刀杆上临近刀头的一端刻有刻度，刀杆在刻度的外部套装金属套，金属套与刀杆上的刻度构成副测量尺；刀杆上刻度量程20mm，分度值1mm，与大进给齿轮盘分度值相同，金属套上刻度19mm，均分为20格，最小分度值0.95mm。 6.根据权利要求1所述的一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样的方法，其特征在于包括下述步骤： 1）、将装置固定支座放在平整的桌面上，将实验得到的表面有蜡沉积物的冷指放入夹持环，向内缓缓推动主变径杆使变径杆顶端圆弧与冷指接触并夹紧，调整定位锥的位置，使定位锥与冷指底部的中心圆孔紧密贴合，保证冷指垂直于固定支座； 2）、调整测量尺的位置，首先将可以上下滑动的滑块固定在需要取样的高度上，将主副尺调整到0刻线，然后旋转进给齿轮盘使测量刀具刀头顶部刚好接触沉积物表面，此时读取副尺零刻度线在主尺上的位置并记录，而后继续旋转微调小进给齿轮盘，直至测量刀具刀头顶部与冷指表面接触，此时，再次读取副尺零刻度线在主尺上的位置并记录，两次读数之差就是蜡沉积物的厚度。测量完某一位置的沉积物厚度后，可以根据实验需要采用相同方法再测量其它位置的沉积物厚度，计算沉积物厚度平均值； 3）、旋出测量刀具，再次将测量刀具顶部调整至与沉积物表面刚好接触的位置，根据实验需要旋进特定的取样厚度并固定测量尺，然后沿滑杆从下至上移动，支杆带动刀具刮取特定厚度的沉积物，依照此法，可以取得任一空间位置的沉积物样品，为测量不同厚度的沉积物性质提供精确样品。 7.根据权利要求6所述的一种适用于冷指表面蜡沉积物的多方位精确测厚和取样的方法，其特征在于所述测量方法依据测量公式：厚度=主测量尺读数+（副尺与主测量对齐尺刻度）×分度值。
所属类别：	发明专利