专利名称: |
一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置及方法 |
摘要: |
本发明一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,包括:固定支座、冷指夹、旋转支杆及测量尺,所述固定支座由底座和支杆组成,支杆安装在底座上,所述支杆上连接有冷指夹,带有沉积物的冷指被冷指夹所固定,所述的旋转支杆的一端与冷指夹滑动连接,旋转支杆的另一端连接有测量尺,本发明能够在滑道范围内任意方位精确测量取样沉积物厚度。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
辽宁;21 |
申请人: |
辽宁石油化工大学 |
发明人: |
范开峰;林盛宇;刘锰;李思;王昆;李嘉宁;王卫强;吴玉国;佟军廷;郝博瀚 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-28T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-09T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910348490.7 |
公开号: |
CN110108513A |
代理机构: |
辽宁沈阳国兴知识产权代理有限公司 |
代理人: |
姜婷婷 |
分类号: |
G01N1/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N1 |
申请人地址: |
113001 辽宁省抚顺市望花区丹东路西段1号 |
主权项: |
1.一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,其特征在于包括:固定支座、冷指夹、旋转支杆及测量尺,所述固定支座由底座和支杆组成,支杆安装在底座上,所述支杆上连接有冷指夹,带有沉积物的冷指被冷指夹所固定,所述的旋转支杆的一端与冷指夹滑动连接,旋转支杆的另一端连接有测量尺。 2.根据权利要求1所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,其特征在于所述的支杆的上部和下部分别设置有冷指夹,上、下两个冷指夹结构相同,所述的冷指夹包括圆环本体和三个拧紧螺杆,三个拧紧螺杆与圆环本体螺纹连接,三个拧紧螺杆为第一拧紧螺杆、第二拧紧螺杆、第三拧紧螺杆,其中第一拧紧螺杆设置在靠近支杆的一侧,第二拧紧螺杆、第三拧紧螺杆设置在第一拧紧螺杆的两侧且与第一拧紧螺杆的延长线垂直,第二拧紧螺杆、第三拧紧螺杆在一条轴线上;所述圆环本体的上下表面设有滑道,滑道位于第二拧紧螺杆、第三拧紧螺杆之间的150°空间上。 3.根据权利要求2所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,其特征在于所述三个拧紧螺杆的结构相同,拧紧螺杆包括螺杆、圆弧板和金属杆,螺杆的顶端嵌入式连接圆弧板,圆弧板的内表面设有橡胶层,金属杆的顶端与圆弧板固定连接且位于螺杆的两侧。 4.根据权利要求2所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,其特征在于所述的滑道的横截面为直角U形槽,旋转支杆的一端嵌入滑道内,旋转支杆嵌入滑道中的一端横截面与滑道形状相匹配,旋转支杆与滑道之间设有滚珠,旋转支杆沿滑道在150°的空间内滑动。 5.根据权利要求4所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,其特征在于所述的旋转支杆的另一端通过滑杆卡槽连接有滑杆,滑杆与旋转支杆垂直,滑块滑动设置在滑杆上,测量杆通过螺纹连接在滑块上,测量杆与滑杆垂直,所述的测量尺包括主测量尺和副尺,测量杆临近冷指的一端安装主测量尺,测量杆的另一端安装微调螺母,主测量尺的上方设置副尺,副尺通过支撑臂固定在滑块上。 6.根据权利要求5所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置,其特征在于所述的主测量尺量程150mm,最小分度值1mm,主测量尺两侧均有刻度,方便测量和读数,副尺量程49mm,最小分度值0.02mm,副尺配合主尺进行精确读数,精确到小数点后两位,无估读。 7.根据权利要求1所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样装置的测厚与取样方法,其特征在于一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样的方法,包括下述步骤: 1) 将装置底座放在平整的桌面上,将实验得到的表面有蜡沉积物的冷指放入冷指夹,同时旋进三个拧紧螺杆夹住冷指,保证冷指表面与拧紧螺杆上的圆弧板中心相切,由此保证冷指与冷指夹同心,将冷指固定在支杆上,为沉积物测厚和取样做准备; 2) 调整测量尺的位置,首先固定好上下滑动的滑块在需要取样的高度上,然后旋转微调螺母使主测量尺顶部刚好接触沉积物表面,此时读取副尺零刻度线在主尺上的位置并记录,而后继续旋转微调螺母直至主尺顶部与冷指表面接触,此时,再次读取副尺零刻度线在主尺上的位置并记录,两次读数之差就是蜡沉积物的厚度;测量完某一位置的沉积物厚度后,可以根据实验需要采用相同方法再测量其它位置的沉积物厚度,计算沉积物厚度平均值; 3)旋出主测量尺,再次将主测量尺顶部调整至与沉积物表面刚好接触的位置,根据实验需要旋进特定的取样厚度并固定,然后沿冷指夹上的滑道滑动旋转支杆,旋转支杆带动主测量尺刮取特定厚度的沉积物,依照此法,可以取得任一空间位置的沉积物样品,为测量不同厚度的沉积物性质提供精确样品。 8.根据权利要求7所述的一种冷指表面蜡沉积物精确测厚与取样方法,其特征在于所述测量方法依据测量公式:厚度=主测量尺读数+(副尺与主测量尺对齐的尺刻度)×分度值。 |
所属类别: |
发明专利 |