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原文传递 快速消除3D荧光本底噪声的方法
专利名称: 快速消除3D荧光本底噪声的方法
摘要: 一种快速消除3D荧光本底噪声的方法,涉及一种消除荧光本底噪声的方法,该方法是获取系列空白光谱,采用投影回归操作,找出阵列检测器的单位本底序列值S1;在各个发射光谱中逐步扣除单位本底序列值S1,以扣减后信号的熵值判断本底强度,每个扣减后的发射光谱熵值最小时,为阵列检测器本底响应被扣除。本发明利用3D光谱的数据冗余,不做空白测量,直接消除样品光谱的检测器本底噪声,实现一次样品测量后输出降噪的3D荧光光谱;可省去空白切换和扫描时间,缩小数据存储量,实现降低操作成本的目的。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广西;45
申请人: 广西科技大学
发明人: 姚志湘;姚桔;粟晖
专利状态: 有效
申请日期: 2019-05-17T00:00:00+0800
发布日期: 2019-08-09T00:00:00+0800
申请号: CN201910412831.2
公开号: CN110108689A
代理机构: 柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙)
代理人: 周小芹
分类号: G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 545006 广西壮族自治区柳州市东环大道268号
主权项: 1.一种快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:该方法是获取系列空白光谱,采用投影回归操作,找出阵列检测器的单位本底序列值S1;在各个发射光谱中逐步扣除单位本底序列值S1,以扣减后信号的熵值判断本底强度,每个扣减后的发射光谱熵值最小时,为阵列检测器本底响应被扣除。 2.根据权利要求1所述的快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:该方法包括以下步骤: S1.空白光谱获取; S2.求取单位本底序列值 对获取的系列空白光谱构成矩阵MB,进行奇异值分解;奇异值分解后,对应于发射光谱的第一特征向量即为阵列检测器的单位本底序列值S1; S3.本底消除的熵值判断 对每一组发射光谱,逐步扣减单位本底序列值S1,当单位本底序列值S1的影响降低至最小值,对应的扣减光谱的熵值也达到最小,而进一步增加扣减,单位本底序列值S1的影响又会反向增加;把对应熵值达到最小时所判断出的扣减光谱,作为消除了检测器本底噪声的发射光谱输出;将每个激发波长对应发射光谱逐一完成扣减,即可完成完整的3D荧光光谱的本底消除。 3.根据权利要求2所述的快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:步骤S1的具体过程包括: 采集样本的3D荧光光谱,将无荧光发射光谱的波长段的发射光谱作为系列空白光谱;或者对于固定的仪器,做一次空白扫描,存储为空白光谱,在需要消除本底噪声时调用即可,以后再次测量无需重新测量。 4.根据权利要求2所述的快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:在步骤S3后,还包括有步骤S4.整体3D荧光光谱高斯降噪: 对消除本底后的3D荧光光谱,进行高斯滤波,得到进一步降噪后的3D荧光光谱。 5.根据权利要求2所述的快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:步骤S2中,先定义3D荧光光谱EEM中发射光谱在矩阵列、激发光谱在矩阵行,SVD分解后,对应于发射光谱的第一特征向量即为阵列检测器的单位本底序列值S1。 6.根据权利要求5所述的快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:在步骤S2中,如果发射光谱和激发光谱在3D荧光光谱中行列与定义不同,则转置成定义的要求。 7.根据权利要求6所述的快速消除3D荧光本底噪声的方法,其特征在于:在步骤S2中,在求取阵列检测器的单位本底序列值S1后,将单位本底序列值S1与矩阵MB中任意一列求取相关系数,如果相关系数为负值,则单位本底序列值S1需要乘以-1反向输出。
所属类别: 发明专利
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