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原文传递 一种用于减少转角传感器累加误差的校验装置及其校验方法
专利名称: 一种用于减少转角传感器累加误差的校验装置及其校验方法
摘要: 本发明公开了一种用于减少转角传感器累加误差的校验装置及其校验方法,通过在传统转角传感器信号盘上设置在一个信号校验孔并在转角传感器底座上加装两个校验位,信号校验孔到达校验位时进行一次校验来减少转角传感器的累加误差。本发明适用性强,无需考虑转角传感器内部与外部等因素所造成的误差,只需对误差进行逐次清除,从而减少了计数累计误差,提高了转角传感器的精度。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 安徽;34
申请人: 合肥工业大学
发明人: 夏光;李嘉诚;汪韶杰;孙保群;石鹏;张亮;许立平;赵名卓;张洋;高军;杨猛;纵华宇
专利状态: 有效
申请日期: 2019-05-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-08-16T00:00:00+0800
申请号: CN201910455534.6
公开号: CN110126918A
代理机构: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
代理人: 陆丽莉;何梅生
分类号: B62D15/02(2006.01);B;B62;B62D;B62D15
申请人地址: 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号
主权项: 1.一种用于减少转角传感器累加误差的校验装置,是应用于转向系统中,所述转向系统是在转向轴(12)上套装有转向管柱(11),并在所述转向轴(12)的顶部设置有方向盘(10),其特征在于,在所述转向管柱(11)上套装有转角传感器底座(9),在所述转向轴(12)上套装有转角传感器信号盘(8),且所述转角传感器信号盘(8)位于所述方向盘(10)与所述转角传感器底座(9)之间; 在所述转角传感器底座(9)上对称安装校验位A(1)和校验位B(5),所述校验位A(1)和校验位B(5)均由上部发射端与下部接收端组成的光电式或磁电式信号发射器,且所述上部发射端位于所述转角传感器信号盘(8)的上方,所述下部接收端位于所述转角传感器信号盘(8)的下方;在所述转角传感器信号盘(8)上设置一信号校验孔(3),并分别与所述校验位A(1)和校验位B(5)的位置对应。 2.根据权利要求1所述的用于减少转角传感器累加误差的校验装置的校验方法,其特征是按如下步骤进行: 步骤1、设定所述信号校验孔(3)转到所述校验位A(1)时理论计数脉冲数累计值为fA=n+x×a、所述信号校验孔(3)转到所述校验位B(5)时理论计数脉冲数累计值为fB=m+x×a,其中,a为转角传感器单圈脉冲数,x为方向盘转动圈数;n为校验位A(1)距方向盘中位的脉冲值个数,m为校验位B(5)距方向盘中位的脉冲值个数; 步骤2、判断所述信号校验孔(3)是否转到所述校验位A(1)或校验位B(5)所对应的位置上,若是,则表示相应校验位上产生脉冲信号,并执行步骤3;否则,执行步骤2; 步骤3、采集所述信号校验孔(3)转到所述校验位A(1)或校验位B(5)时的实际计数脉冲值累计值FA或FB,并将采集到的实际计数脉冲数累计值FA与理论计数脉冲数累计值fA或将采集到的实际计数脉冲数累计值FB与理论计数脉冲数累计值fB进行比较,从而得到比较结果; 步骤4、根据所述比较结果,对实际计数脉冲数累计值FA或FB进行相应的修正。 3.根据权利要求1所述的校验装置,其特征在于:所述校验位A(1)的上部发射端与校验位B(5)的上部发射端上分别设置不同强度的磁片,从而使得所述校验位A(1)的信号强度与校验位B(5)的强度不同,以区分校验位A(1)和校验位B(5)。 4.根据权利要求2所述的校验方法,其特征在于:所述步骤1中的理论计数脉冲数累计值fA和fB是按以下方法确定: 将转角传感器安装在方向盘上,设置方向盘中位时转角传感器脉冲为0,校验位A(1)距方向盘中位n个脉冲值,校验位B(5)距方向盘中位m个脉冲值; 假设转角传感器单圈具有a个脉冲数,且n与m相差a2;则方向盘距离中位转动x圈时,有fA=n+x×a、fB=m+x×a。 5.根据权利要求2所述的校验方法,其特征在于:所述步骤4中实际计数脉冲数累计值FA或FB是按以下方法修正: 若所述信号校验孔(3)转到所述校验位A,则: (1)若FA≠fA,则令FA=fA; (2)若FA=fA,则不对FA进行修正; 若所述信号校验孔(3)转到所述校验位B,则: (1)若FB≠fB,则令FB=fB; (2)若FB=fB,则不对FB进行修正。
所属类别: 发明专利
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