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一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法
| 专利名称： | 一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法 |
| 摘要： | 本发明适用于无损检测技术领域，提供一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置及检测方法，所述缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。本发明可以区分上表面焊瘤和腐蚀坑，有利于排除焊瘤对检测信号的干扰；另外结合漏磁检测技术，可以进一步区分缺陷在上表面或下表面，可以确定缺陷的位置，更准确的评估储罐的剩余寿命；另外，在缺陷定量方面，可以确定缺陷的深度；此外，对于缺陷形貌的检测更准确，同时麻坑太多时的检测问题也得到了解决，通过表面磁导技术所得数据，可以检测出上表面的蜂窝麻面。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 西红柿科技(武汉)有限公司 |
| 发明人： | 卢永雄;阮鸥;陆智明;王康;黄威;王子豪;赵琴;关江浩;凌威 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-22T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-08-30T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910427705.4 |
| 公开号： | CN110187001A |
| 代理机构： | 深圳市知顶顶知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 马世中 |
| 分类号： | G01N27/82(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 430074 湖北省武汉市东湖开发区花城大道9号软件新城A3栋1楼 |
| 主权项： | 1.一种采用表面磁导技术的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括磁桥，所述磁桥两端下方各设置一块磁铁，这两块磁铁极性方向相反放置，其中一块磁铁的下方固定有磁敏元件。 2.如权利要求1所述采用表面磁导技术的缺陷检测装置，其特征在于，所述两块磁铁之间设置有漏磁检测传感器。 3.一种采用表面磁导技术的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法采用如权利要求1或2所述的缺陷检测装置实现，所述方法包括下述步骤： 操作缺陷检测装置在待检测对象表面扫描，扫描过程中保持缺陷检测装置与待检测对象一定提离值不变； 在扫描过程中，如果磁敏元件输出的信号值变小，则判定当前磁敏元件对应待检测对象上表面位置出现了腐蚀坑，如果磁敏元件输出的信号值变大，则判定当前磁敏元件对应待检测对象上表面位置出现了焊瘤。 4.如权利要求3所述采用表面磁导技术的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括下述步骤： 在扫描过程中，如果漏磁检测传感器检测到有漏磁信号，这里当前漏磁检测传感器对应待检测对象位置称为漏磁位置，操作缺陷检测装置使得磁敏元件经过该漏磁位置，如果磁敏元件输出的信号值不变，则判断当前待检测对象漏磁位置下表面出现了腐蚀坑。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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