专利名称: |
用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化 |
摘要: |
本发明涉及用荧光材料检测荧光计的失效或性能恶化,具体涉及一种用于自检荧光计的失效或性能恶化的系统和方法,包括安装在载体上以相对于一个或多个固定荧光计移动的荧光参考标准物。使用所述荧光计初始测量所述荧光参考标准物的荧光发射强度,并且在荧光计使用了一段规定时间后,使用荧光计测定荧光标准物的荧光发射强度的测试量值。将所述测试量值与所述初始量值相比较,并且基于所述测试量值与所述初始量值的偏差确定所述荧光计的失效或性能恶化。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
美国;US |
申请人: |
简·探针公司 |
发明人: |
H·李;D·奥帕尔斯基;R·E·海因茨;N·D·哈根 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2013-06-07T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-23T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910322777.2 |
公开号: |
CN110160968A |
代理机构: |
北京坤瑞律师事务所 |
代理人: |
封新琴 |
分类号: |
G01N21/27(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
美国加利福尼亚州 |
主权项: |
1.一种用于监测动态环境中荧光计的性能的系统,所述系统包括: 培养器,所述培养器限定受控温度壳体; 容器载体,所述容器载体设置在所述培养器内并配置成载有受控温度壳体内的多个容器; 荧光计,所述荧光计附接于所述培养器并包括两个或更多个通道,每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,并且其中每个通道被配置成将光源会聚到对应于承载于所述容器载体上的容器位置的所述受控温度壳体内的检测区; 荧光参考标准物,所述荧光参考标准物对应于所述荧光计的每个通道,其中每个荧光参考标准物固定于容器载体的部分;以及 驱动装置,所述驱动装置被配置和控制成移动受控温度壳体内的容器载体并选择性地将承载于所述容器载体上的容器之一定位于所述荧光计的每个通道的检测区中,或将固定于容器载体的至少一种荧光参考标准物定位成与所述荧光计的其对应通道光学连通, 控制器,所述控制器被配置为对于所述荧光计的每个通道,对由对应于通道的荧光参考标准物发射的荧光进行初始测量,存储初始测量,对由对应于通道的荧光参考标准物发射的荧光进行一次或多次后续测量,将每个后续测量与存储的初始测量进行比较,并且如果任何后续测量与初始测量之间的差异超过预定阈值,则激活错误警报。 2.根据权利要求1所述的系统,其中当所述荧光参考标准物定位成与所述荧光计的所述对应通道光学连通时,所述荧光参考标准物相对于所述检测区偏离焦点。 3.根据权利要求1或2所述的系统,其中所述荧光参考标准物在所述容器载体上设置成直线排列。 4.根据权利要求1-3中任一项所述的系统,其中所述容器载体包括荧光参考标准物的两个或更多个直线排列。 5.根据权利要求4所述的系统,其中每个直线排列包括具有区别于荧光参考标准物的其他直线排列中的每一者的发射特性的一组荧光参考标准物。 6.根据权利要求3所述的系统,其中所述直线排列中的所述荧光参考标准物中的至少一个具有区别于所述直线排列中的其他荧光参考标准物中的至少一个的发射特性。 7.根据权利要求6所述的系统,其中所述直线排列中的相邻荧光参考标准物具有不同的发射特性。 8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统,其中所述荧光参考标准物由荧光塑料构成。 9.根据权利要求8所述的系统,其中所述荧光参考标准物分别是粉红色、绿色、蓝色或琥珀色塑料。 10.根据权利要求1至9中任一项所述的系统,其中每次仅一个所述荧光参考标准物可被定位成与所述荧光计的所述两个或更多个通道中的一个光学连通。 11.根据权利要求10所述的系统,其中所述荧光计和所述驱动机构被控制以用所述荧光计的两个或更多个通道对来自承载于所述容器载体上的不同容器的荧光发射进行重复的同时测量,并且在每次重复测量之间,用所述荧光计的其相应的通道对由所述荧光参考标准物之一发射的荧光进行测量。 12.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约1%到99%之间更靠近所述对应通道。 13.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约20%到80%之间更靠近所述对应通道。 14.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约60%到90%之间更靠近所述对应通道。 15.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成与其对应通道的距离跟所述通道与所述检测区之间的距离相同。 16.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约1%到99%之间更远离其对应通道。 17.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约20%到80%之间更远离其对应通道。 18.根据权利要求1所述的系统,其中所述荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约60%到90%之间更远离其对应通道。 19.根据权利要求1至18中任一项所述的系统,其中所述容器载体包括可旋转圆形传送盘,并且其中所述荧光计附接于所述圆形传送盘下的培养器的底部,且所述驱动装置被配置成通过使所述圆形传送盘围绕中心轴产生角运动而移动所述容器载体。 20.根据权利要求19所述的系统,其中所述驱动装置包括: 马达;以及 传动带,所述传动带被配置成将旋转运动从所述马达的驱动轴转移到所述圆形传送盘。 21.根据权利要求19或20所述的系统,其中所述圆形传送盘包括圆盘,所述圆盘具有对应于所述中心轴线的中心及相对于所述中心轴线向外延伸的多个辐条,并且其中所述荧光参考标准物位于所述一个或多个辐条上。 22.根据权利要求21所述的系统,其中所述辐条相对于所述中心轴线成非径向取向。 23.根据权利要求1所述的系统,其中所述系统包括: 两个或更多个荧光计,每个荧光计包括两个或更多个通道,每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,并且其中每个通道被配置成将所述光源聚焦于不同的检测区;和 对于每个荧光计的一组荧光参考标准物,每组荧光参考标准物具有对应于荧光计的每个通道的一种荧光参考标准物。 24.根据权利要求23所述的系统,其中每个荧光计具有不同的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,使得每个荧光计发出不同的激发信号并且检测不同的发射信号。 25.根据权利要求1至24中任一项所述的系统,其中所述荧光计的每个通道具有不同的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,使得每个通道发出不同的激发信号并且检测不同的发射信号。 26.根据权利要求25所述的系统,其中所述荧光计的所述通道被布置成交替形式,使得相邻通道发出不同的激发信号并且检测不同的发射信号。 27.一种在动态系统中监测荧光计性能的方法,所述系统包括(i)培养器,所述培养器限定受控温度壳体;(ii)荧光计,所述荧光计附接于所述培养器并包括两个或更多个通道,每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,并且其中每个通道被配置成将光源会聚到检测区;(iii)容器载体,所述容器载体设置在所述培养器内并配置成载有受控温度壳体内的多个容器,所述容器载体包括两个或更多个荧光参考标准物,每个荧光参考标准物对应于所述荧光计的单个通道;以及(iv)驱动装置,所述驱动装置被配置成移动受控温度壳体内的容器载体,所述方法包括: a)用所述驱动装置移动所述容器载体,以选择性地将承载于所述容器载体上的容器之一定位于所述荧光计的每个通道的检测区中,或将固定于容器载体的至少一种荧光参考标准物定位成与所述荧光计的其对应通道光学连通, b)对于所述荧光计的每个通道,对由对应于所述通道的荧光参考标准物发射的荧光进行初始测量; c)存储每个通道的初始测量; d)对由对应于所述通道的荧光参考标准物发射的荧光进行一次或多次后续测量; e)将每个后续测量与存储的初始测量进行比较;并且 f)如果任何后续测量与初始测量之间的差异超过预定阈值,则激活错误警报。 28.根据权利要求27所述的方法,其中当所述荧光参考标准物定位成与所述荧光计的所述对应通道光学连通时,所述荧光参考标准物相对于所述检测区偏离焦点。 29.根据权利要求27所述的方法,其中每次仅一个荧光参考标准物与其对应通道光学连通。 30.根据权利要求27至29中任一项所述的方法,其中所述系统还包括两个或更多个承载于所述容器载体上的包含反应材料的容器管,并且所述方法还包括用荧光计监测每个容器管中发生的反应的进展。 31.根据权利要求30所述的方法,其中所述步骤b)至f)与监测所述两个或更多个容器管中的每一个内发生的所述反应的进展依次发生。 32.根据权利要求27至31中任一项所述的方法,其中所述两个或更多个荧光参考标准物在所述容器载体上设置成直线排列。 33.根据权利要求27至32中任一项所述的方法,其中所述支承架包括两个或更多个荧光参考标准物的两个或更多个直线排列。 34.根据权利要求33所述的方法,其中每个直线排列包括具有区别于荧光参考标准物的每个别的直线排列的发射特性的一组荧光参考标准物。 35.根据权利要求32或33所述的方法,其中所述直线排列中的所述荧光参考标准物中的至少一个具有区别于所述直线排列中的其他荧光参考标准物中的至少一个的发射特性。 36.根据权利要求32或33所述的方法,其中所述直线排列中的相邻荧光参考标准物具有不同的发射特性。 37.根据权利要求27至36中任一项所述的方法,其中每个所述荧光参考标准物由荧光塑料构成。 38.根据权利要求37所述的方法,其中所述荧光参考标准物分别是粉红色、绿色、蓝色或琥珀色塑料。 39.根据权利要求27至38中任一项所述的方法,其中每次仅一个所述荧光参考标准物可被定位成与所述荧光计的所述两个或更多个通道中的一个光学连通。 40.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约1%到99%之间更靠近所述对应通道。 41.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约20%到80%之间更靠近所述对应通道。 42.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约60%到90%之间更靠近所述对应通道。 43.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成与所述对应通道的距离跟所述通道与所述检测区之间的距离相同。 44.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约1%到99%之间更远离所述对应通道。 45.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约20%到80%之间更远离所述对应通道。 46.根据权利要求27所述的方法,其中每个荧光参考标准物被定位成相比于所述检测区在约60%到90%之间更远离所述对应通道。 47.根据权利要求27至46中任一项所述的方法,其中所述容器载体包括可旋转圆形传送盘并且所述荧光计附接于所述圆形传送盘下的培养器的底部,并且其中移动所述容器载体包括围绕中心轴线旋转所述圆形传送盘。 48.根据权利要求47所述的方法,其中所述驱动装置包括: 马达;以及 传动带,所述传动带被配置成将旋转运动从所述马达的驱动轴转移到所述圆形传送盘。 49.根据权利要求47或48所述的方法,其中所述圆形传送盘包括圆盘,所述圆盘具有对应于所述中心轴线的中心及相对于所述中心轴线向外延伸的多个辐条,并且其中所述荧光参考标准物位于所述一个或多个辐条上。 50.根据权利要求49所述的方法,其中所述辐条相对于所述中心轴线成非径向取向。 51.根据权利要求27所述的方法,其中所述系统包括: 两个或更多个荧光计,每个荧光计包括两个或更多个通道,每个通道具有单独的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,并且其中每个通道被配置成将所述光源聚焦于不同的检测区;和 对于每个荧光计的一组荧光参考标准物,每组荧光参考标准物具有对应于荧光计的每个通道的一种荧光参考标准物。 52.根据权利要求51所述的方法,其中每个荧光计具有不同的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,使得每个荧光计发出不同的激发信号并且检测不同的发射信号。 53.根据权利要求27至52中任一项所述的方法,其中所述荧光计的每个通道具有不同的光源、光学聚焦与过滤组件以及光学信号检测器,使得每个通道发出不同的激发信号并且检测不同的发射信号。 54.根据权利要求53所述的方法,其中所述荧光计的所述通道被布置成交替形式,使得相邻通道发出不同的激发信号并且检测不同的发射信号。 |
所属类别: |
发明专利 |