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一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法
| 专利名称： | 一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法，具体涉及农药杂质检测领域，配制氰霜唑杂质I对照物溶液为配制的im1‑stock‑0410溶液；氰霜唑杂质II对照物溶液为配制的im2‑stock‑01溶液；配制5组被试物溶液，分别称取0.2035、0.2011、0.2064、0.2009、0.2016被试物，然后分别定容至25mL，通过对比空白溶液和对照物溶液的峰值，即推测含杂质对照物溶液的杂质种类。本发明能够高效地从氰霜唑原药中鉴别出杂质成分，并通过质谱分析，确认杂质的化合物信息，为该农药的生产、登记，以及使用指导提供技术支持。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江苏恒生检测有限公司 |
| 发明人： | 余鹏敏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-06-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-09-06T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910580372.9 |
| 公开号： | CN110208423A |
| 代理机构： | 南京常青藤知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 史慧敏 |
| 分类号： | G01N30/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N30 |
| 申请人地址： | 210000 江苏省南京市经济技术开发区恒竞路31-1号 |
| 主权项： | 1.一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法，其特征在于：具体如下， S1、配制两组氰霜唑杂质对照物溶液备用； S2、再配制若干组被试物溶液备用； S3、设定质谱仪参数，具体参数如下： 色谱条件如下：色谱柱：Agilent Eclipse XDB-C18 4.6×250mm,5μm；流动相：水(含0.004％乙酸)：乙腈：甲醇＝43:25:32；柱温；30℃；样品保存：10℃；流速：1.0mL/min；进样量：5μL；波长：280nm；检测时间：70min； 质谱条件如下： S4、待仪器稳定后，质谱仪依次进样：先进一针空白溶剂、杂质对照物溶液，然后按照空白溶剂、被试物溶液的顺序进行测定； S5、测试空白溶液和对照物溶液的分子碎片峰质荷峰值，通过对比空白溶液和对照物溶液的峰值，即推测含杂质对照物溶液的杂质种类。 2.根据权利要求1所述的一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法，其特征在于：S1步骤中，配制2组氰霜唑杂质I对照物定容至25mL。 3.根据权利要求2所述的一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法，其特征在于：S2步骤中，配制5组被试物溶液，然后使用纯水分别定容至25mL。 4.根据权利要求3所述的一种农药氰霜唑中含有杂质的分析方法，其特征在于：配制氰霜唑杂质I对照物溶液为配制的im1-stock-0410溶液；氰霜唑杂质II对照物溶液为配制的im2-stock-01溶液；配制5组被试物溶液，分别称取0.2035、0.2011、0.2064、0.2009、0.2016被试物，然后分别定容至25mL。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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