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原文传递 用于废金属扫描的方法和设备
专利名称: 用于废金属扫描的方法和设备
摘要: 本发明涉及一种用于批量测定废金属成分的方法和设备,所述方法包括以下步骤:提供废金属投料;准备所述投料用于提交至批量扫描设备;用批量扫描设备扫描至少部分废金属,以确定废金属的组成;以及确保废金属从提供废金属投料的步骤到扫描至少部分废金属的步骤的安全性。所述设备包括扫描容器以及低强度中子散射装置、激光切割装置和/或磁感测装置。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 荷兰;NL
申请人: 斯克拉普斯肯纳有限公司
发明人: 亨德里克斯·斯塔尔;马蒂杰恩·范德波尔;西蒙·彼得鲁斯·玛丽亚·贝尔库特;彼得·卡洛·雷米
专利状态: 有效
申请日期: 2017-11-13T00:00:00+0800
发布日期: 2019-09-20T00:00:00+0800
申请号: CN201780082998.6
公开号: CN110268254A
代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人: 李海霞
分类号: G01N23/204(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 荷兰哈尔德韦克
主权项: 1.用于批量测定废金属成分的方法,所述方法包括以下步骤 -提供废金属投料; -准备所述投料用于提交至批量扫描设备; -用批量扫描设备扫描至少部分所述废金属,以确定所述废金属的组成; 以及确保所述废金属从提供所述废金属投料的步骤到扫描至少部分所述废金属的步骤的安全性。 2.根据权利要求1所述的方法,其中,准备所述投料的步骤包括重组所述投料以获得包括所述废金属的基本上可预测的重组布置。 3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述废金属包括含铁和/或非含铁废金属。 4.根据前述权利要求所述的方法,其中,所述废金属还包含一种或多种选自水分、塑料、油、钢、矿物质或其组合的污染物;并且确定所述废金属的组成包括确定所述含铁金属或非含铁金属含量对比污染物含量。 5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,包括在扫描步骤之后,将所述废金属装载到运输容器中并密封经装载的所述运输容器,其中所述方法优选还包括进一步确保所述废金属从扫描步骤到将所述废金属装载到所述容器中的步骤的安全性,优选视觉监控所述废金属从扫描步骤到将所述废金属装载到所述容器中的步骤。 6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,还包括将在所述扫描步骤中确定的所述废金属的组成与在单独的先前扫描步骤中确定的所述废金属的组成进行比较,其中使用与所述批量扫描设备相同类型的扫描设备进行所述单独的先前扫描步骤,优选使用基本相同的批量扫描设备。 7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,确保所述废金属的安全性包括安全防护所述废金属防止未检测到的篡改,监控、优选视觉监控所述废金属,标记或标识所述废金属,监控所述废金属的环境,或者它们的组合。 8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,准备所述投料用于提交至批量扫描设备的步骤包括以三维布置对所述投料进行布置,优选将所述投料布置在扫描容器中。 9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述扫描包括对视觉检查所述废金属时视线阻挡的至少部分所述废金属进行扫描。 10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述扫描包括切割、磁感测、低强度中子散射或其组合,优选机械切割和激光切割,更优选机械切割和包括激光诱导击穿光谱的激光切割。 11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述磁感测包括将至少部分所述废金属置于5至100高斯,优选10至40高斯的磁场中,并通过一个或多个霍尔传感器检测磁场变化。 12.根据权利要求10-11中任一项所述的方法,其中,所述低强度中子散射包括确定至少部分所述废金属中的氢原子的含量。 13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述扫描步骤包括多于50次,优选多于100次,更优选多于500次,最优选多于1000次的废料组成的独立测量。 14.一种用于重组和扫描废金属投料的设备,所述设备包括扫描容器以及低强度中子散射装置、激光切割装置和/或磁感测装置。 15.根据权利要求14所述的设备,其中,所述扫描容器是圆筒形并且包括壁,所述壁包括一个或多个开口,使得在操作期间,位于所述扫描容器外部的所述激光切割装置能够通过一个或多个开口将激光束投射到所述扫描容器内。
所属类别: 发明专利
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